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上海恒平 可见分光光度计 756PC *批发
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详细信息
上海恒平 可见分光光度计 756PC *批发
上海恒平 可见分光光度计 756PC *批发
752、754、756PC产品适用于对紫外、可见光谱区域内物质的含量进行定量分析，可广泛应用于工厂、学校、冶金、农业、食品、生化、环保、石油化工、医疗卫生等单位的基础实验室。
功能
自动波长，键盘输入，波长设定和转换更快速。
一阶过零、一阶线性标准曲线测试、zui多可建立12个标样点的标准曲线。
标定曲线拟合度，浓度直读，可保存50条曲线参数。
浓度因子设定和浓度设定的浓度直读功能，可保存200条测试记录。
系统时钟管理，暗电流校正，波长校正，USB数据接口，灯切换波长设置。
8键键盘，内置6个常用工作波长，一键调取(752)
UV-Solution 2.0工作站软件，具有各种测试、扫描功能(756PC)
型号 | 752 | 754 | 756PC |
带宽 | 4nm | 4nm | 2nm |
波长范围 | 200~1000nm(步进间隔0.1nm) | 190~1100nm(步进间隔0.1nm) | 190~1100nm(步进间隔0.1nm) |
波长准确度 | ±2.0nm(开机自动校准) | ±1.0nm(开机自动校准) | ±1.0nm(开机自动校准) |
波长重复性 | 1nm | 0.5nm | 0.5nm |
测定范围 | T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999 | ||
透射比准确度 | ±0.5%T | ||
透射比重复性 | ±0.2%T | ||
杂散光 | ≤0.5%T(在220nm、340nm处) | ≤0.3%T(在220nm、340nm处) | ≤0.15%T(在220nm、340nm处) |
基线直线性 | / | / | ±0.004A |
稳定性/基线漂移 | ±0.003A/h | ±0.002A/h | ±0.002A/h |
显示器 | 128×64大屏幕液晶显示 | ||
外形尺寸：455*430*220(mm)
软件功能说明
软件型号 | 适用仪器 | 软件功能 |
UV-Solution 1.0 | 752、754 | 定量测试、吸光度监视等功能 |
UV-Solution 2.0 | 756PC | 定量测试：可进行一、二、三阶拟合标准曲线测试，zui多可通过20个标样建立标准曲线。可选择单波长，双波长或三波长条件下测试。 动力学测试：对样品进行时间扫描，测试时间可达7天。采样时间0.5、1、2、5、10、30、60秒可选，可保存10000条测试数据。 波长扫描：在任意波长范围内以0.1、0.2、0.5、1、2、5nm的扫描间隔对样品进行扫描，并对图谱进行缩放、平滑、四则运算、坐标调整、峰/谷自动检测、1~4阶导数等数据处理，可容纳八个扫描图谱。 多波长测试：zui多可设置15个测试波长点。 数据导出：数据和图谱可导出为txt和bmp格式文件供用户编辑。 附功能：核糖核酸/蛋白质测量：快速测量DNA样品在特定波长下的吸光度，自动计算样品浓度及DNA Ratio |
