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起订量：
USPMⅢ 奥林巴斯 镜片反射率测定仪 USPMⅢ
- 型号
- USPMⅢ
- 参数
- 产地类别:进口
Evident企业简介
源自百年光学仪器奥林巴斯丰富的科研根基，以高新科技不断突破创新，这就是Evident，一家年轻又富于经验的光学科技企业。
作为国际化精密仪器、光学技术制造商，Evident的产品广泛运用于包括生命科学、材料科学、航空航天、汽车、电子、电力、石化、基础建设、地质环境等多种研究领域。与此同时，作为专业的光学仪器和解决方案供应商，Evident凭借钻研进取的创新，超越期待的服务，为广大客户提供解决方案，将继续致力于实现世界人民的健康、安心和幸福生活的企业使命，不断为社会做出贡献。
我们向您承诺，我们的产品，服务和技术支持的水平将会一如既往地达到您的期望。在可预见的未来，Evident销售的产品将继续冠有奥林巴斯名称。
详细信息
USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪
USPM-RU III反射仪可精确测量当前分光仪无法测量的微小、超薄样本的光谱反射率，不会与样本背
面的反射光产生干涉。是适合测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统。
消除背面反射光
采用特殊光学系统，消除背面反射光。
不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。
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可测定微小区域的反射率
用物镜对焦于样本表面的微小光斑（?60 μm），可以测定镜片曲面及镀膜层是否均匀。 -
测定时间短
由于使用了Flat Field Grating（平面光栅）和线传感器的高速分光测光机构，可以进行快速、再现性很高的测定。 -
支持XY色度图、L*a*b*测定
可以依据分光测色法，通过分光反射率测定物体颜色。 -
可以测定高强度镀膜的膜厚
采用干涉光分光法，可以在不接触、无损的情况下测定被检物的膜厚（单层膜）。
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