X射线荧光光谱仪厂家规格参数：

型号：

测量元素：原子序数13(Al)～92(U)

样品形态：固体、粉末、液体

射线源：X射线管球(Rh靶材)    

管电压：zui大50kV  管电流：zui大1000μA

检测器：Si半导体检测器

分析领域：Φ1mm，Φ3mm，Φ5mm (自动切换)

样品观察：彩色CCD摄像头

滤波器：5种模式自动切换

样品室：370(W) ×320(D) ×120(H)mm

定性分析：能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示

定量分析：块体校准曲线、块体FP法

有害物质测量功能：环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy   

                              材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等

数据处理：配备EXCEL、配备WORD

外形尺寸：520（W）×600（D）×445（H）mm

安装尺寸：1500（W）×1000（D）

重量：约60kg

使用电源（主机）：AC100~240V±10%单相

选购项：自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质

日立X射线荧光分析仪EA1000AIIIX射线荧光光谱仪特长：

1.通过快速测狼提高测量效率

与以往机型相比，每个树脂与金属样品的测量时间*均大幅缩短。每天的处理量实现跨越式增长。

*包涵统计误差（3σ）达到Cd 20 mg/kg、Pb、Hg、Br、Cr 100mg/kg以下所需的切换时间。

2.材料辨识功能

测量开始后，可在短时间内（25秒以下）识别待测样品的材质。材料大体分为树脂（PE、PVC）、AI合金、Fe合金、Cu合金、Sn合金等。即使不清楚样品的材质，也无需为如何选择分析方法而困惑。

   ●材料辨识测量模式

     识别待测样品的材料类型，自动选择*的分析方法

   ●材料辨识自动测量模式

     识别待测样品的材料类型后，自动选择适合的分析方法进行测量，并显示结果。所有步骤实现全自动处理。

3.分析线切换功能

本功能是由仪器判断所含元素与波峰的重叠情况，并自动选择统计误差较小的分析线。可以更加有效地管理精度、提高测量效率。

4.大型样品室与自动进样器（选购项）

日立X射线荧光分析仪EA1000AIII的大容量样品室可轻松测量大型样品。自动进样器zui多可连续测量12个样品，可轻易将微小的样品置于正确的测量位置上。

环境限制物质测量软件Ver.2

●通过精度管理软件优化测量时间（Ver.1已有功能）

●利用数据库对各网点的测量数据进行集中管理（搜索、游览、分析、编辑、打印、制作报告）

●对于之前曾经测过的同一样品，可比较两次的测量结果

●除了RoHS分析、卤素分析、玩具分析、Sb、Sn分析之外，还可自由添加需要管理的元素