半导体高低温冷热冲击老化试验箱执行与满足标准

电子电路板行业里，客户对设备的要求各种各样，我们为客户提供定制版高低温冷热冲击试验箱，我们行业先例也很多，给我们一次认识的机会，我们给您提供可靠的设备！

1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；
4、GJB150.5-86温度冲击试验；
5、GJB360.7-87温度冲击试验；
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
11、GB/T 2423.22-2002温度变化
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
13、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估

半导体高低温冷热冲击老化试验箱技术规格

型 号

温度冲击范围:-40~+150 ℃

温度冲击范围:-55~+150 ℃

LTS-50

LTS-80

LTS-150

LTS-252

STS-50

STS-80

STS-150

STS-252

■ 性能

试验方式

气动风门切换 2 温室或 3 温室方式

高温室

预热温度范围

60 ～ + 200 ℃

升温速率

RT. → + 200 ℃　约 3 5 分钟

低温室

预冷温度范围

-55 ～ -10 ℃

-65 ～ -10 ℃

降温速率

+ 20 → -55 ℃ 约 6 0 分钟

＋ 20 →－ 65 ℃ 约 7 0 分钟

试验室温度范围

-40 － +150 ℃

-55 － +150 ℃

温度偏差

±2 ℃

温度恢复时间

5 分钟以内

恢复条件

高温曝露

低温曝露

高温曝露

低温曝露

150 ℃： 30 分钟

－ 40 ℃： 30 分钟

150 ℃： 30 分钟

－ 55 ℃： 30 分钟

※ 1. 温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能； 2. 恢复条件：室温为＋ 20 ℃。

■ 主要部分、结构

材 料

外壳

纹路处理不锈钢板或优质冷轧钢板静电喷塑

内体

不锈钢板 （SUS304）

绝热

聚氨酯泡沫和玻璃纤维

构 成

高温室

加热器

鳍片式散热管形不锈钢电热器

风机

高温环境温度曝露时共用离心风机，预热用轴流风机

低温室

加热器、冷却器

鳍片式散热管形不锈钢电热器 、翅片式冷却器、蓄冷器

风机

离心风机

驱动装置

气动气缸

高温、环境温度、低温曝露时的各个风门驱动用

空气压缩机

提供驱动气动风门的压缩空气（选件）

制冷机组

制冷方式

机械压缩二元复迭制冷

压缩机

欧美*全封闭或半封闭压缩机

制冷剂

环保冷媒 R-507/R-23

冷凝器

不锈钢钎焊板式换热器

■ 温度控制器

操作界面

7.5"TFT 彩色 液晶显示触 摸屏，中文菜单提示

程序记忆容量

96 个用户程序（可自行编制、修改）

设定指示范围

时间： 1 分钟～ 99 小时 59 分钟，循环： 1 ～ 999 次 循环

分辨率

± 0.1℃

输入

PT100 铂电阻

控制方法

PID 控制

附属功能

定时器、超温保护、传感器上下风选择、停电保护、报警记录、试验曲线记录、试验暂停、程序运行时间显示

■规格

内部尺寸 （cm）

D

35

40

50

60

35

40

50

60

W

40

50

60

70

40

50

60

70

H

35

40

50

60

35

40

50

60

外形尺寸 （cm）

D

132

147

192

217

132

147

192

217

W

125

135

155

165

125

135

155

165

H

157

150

160

170

157

150

160

170

内容积 （升）

50

80

150

250

50

80

150

250

电 源

AC 380±10%V 50±0.5 Hz ， 三相四线 + 保护地线

功 率 （kw）

16kw

25kw

30kw

40kw

22kw

30kw

35kw

47kw

试样重量

2.5kg

5kg

10kg

15kg

2.5kg

5kg

10kg

15kg

■ 标准配置

累计计时器 1 个，引线孔（ 25×100mm 长圆型孔 箱体左侧面） 1 个，脚轮 6 个，调整脚 4 个

■安全装置

漏电断路器，试验室温度过高、过低保护器（控制器内置），排气阀，试样电源控制端子，高、低温室超温保护（控制器内置），压缩机超压、过热保护，断水继电器，风机热继电器，电动机温度开关，电动机反转防止继电器，压缩空气压力开关，保险丝。

■ 箱选配

温度记录仪

半导体高低温冷热冲击试验箱

冷热冲击试验箱和温度循环试验箱的区别在哪里
【概念】冷热(温度)冲击和温度循环可以统称为温度变化试验，IEC称之为change of temperature。温度变化方式有两种，一种是规定转换时间，譬如两箱法的温度冲击箱，一种是规定温变率，普通的温湿度或快速温变箱（又有人叫EES箱）、甚至是HALT箱(HAST加速老化试验箱)都可以实现特定的温变率，好像没有哪个标准界定多大的温变率才叫做温度冲击。
【区别】
1、冷热冲击与温度循环的区别在于：在常温下搁置的时间不同，即：温度循环一般是物体在冷或热的温度下取出后，要在常温下使物体恢复到常温，半小时以上才进入到下一个热或冷的环境温度；冷热冲击则是马上进入到下一个温度环境。
2、冷热(温度循环}和温度冲击zui大的区别是温度变化率的大小区别。 这就导致了在不同温度变化率的情况下，物质的热胀冷缩的性能区别。 不同材料的CTE 的能力不同，温度变化太快的话，会对材料的保持力产生影响!