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顶配Maxxi6膜厚仪*
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深圳谱赛斯科技有限公司专业的X荧光测厚仪及牛津膜厚仪厂家,主营:镀层厚度检测仪,X荧光测厚仪,牛津膜厚仪,X射线测厚仪等。我司坐落于深圳工业重镇松岗镇中心的佳裕大厦，专注于英国牛津全系列测厚仪在国内的销售与维护。我司拥有极为专业销售及维修团队，80%以上人员从事测厚仪行业超过十年。连续十余年为全国各地的PCB、LED、SMD、半导体、连接器、端子、紧固件、汽车、五金等制造厂商及高校、科研机构、质检机构等广大客户提供快捷、优质的售前及售后服务和技术支持。并获得业界无数好评。
详细信息
顶配Maxxi6膜厚仪镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析，顶配Maxxi6膜厚仪可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。
顶配Maxxi6膜厚仪优化的微聚焦硬件和直观的用户界面，简化了常规分析，提高了产出，使用“一键式”操作可确保zui简单的培训就能同专业技术人员得到一样的结果。高级用户能容易地理解X荧光光谱，获得定制的校准和探索未知的材料。
顶配Maxxi6膜厚仪参数功能介绍表：
元素范围 13Al to 92U，电源 110 V / 230 V 60 Hz / 50 Hz，分析层数&元素数量，自定义（在元素范围内），自定义镀层结构,含合金镀层
X射线激发
50 kV, 1.2 mA (60 W) 高压发生器
Be窗微聚焦W阳极靶射线管(Mo阳极靶射线管可选)
探测器5 mm2 SDD探测器Peltier电制冷，能量分辨率140 eV (FWHM for MnKα )
一次绿光片(选配件)，多至5位自动切换一次滤光片
准直器单准直器: 0.1 x 0.4 mm, 0.1 x 0.7 mm, 0.1 mm, 0. 3 mm, 0.5 mm,
