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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪
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- 产地类别:进口
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HORIBA 科学仪器事业部（HORIBA Scientific）隶属 HORIBA 集团，致力于为用户提供先进的检测和分析仪器：包括元素分析、荧光、刑侦、ICP、粒度表征、激光拉曼光谱、椭圆偏振光谱、油中硫分析、水质和XRF等分析仪器。
结合旗下的技术优势，包括拥有200多年发展历史的光谱制造技术Jobin Yvon,以及拥有*技术优势的IBH, SPEX, Instruments S.A, ISA, Dilor, Sofie, SLM以及 Beta Scientific等。今天，HORIBA Scientific 的各种检测分析仪器已经遍布各地，并在中国实现了销售和服务的本土化，位于上海、北京、广州三地的产品专家、售后服务团队以及全国各地的代理商机构可充分保障国内用户的技术咨询以及售后服务需求。
详细信息
SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具，如颗粒粒径、zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定；还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。
SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。
产品特点
· 同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数
· 宽检测范围，宽浓度范围——样品浓度可达40%
· 自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定
· 软件操作简单功能强大，一键测量
· 双光路双角度粒径测量（90° 和173°）
· 采用微量样品池
技术参数
粒径测量原理：动态光散射法（光子相关光谱法）
粒径测定范围：0.3nm ～10μm
粒径测量精度：±2%（NIST 可溯源标准粒子100nm）
Zeta 电位测量原理：激光多普勒电泳法
Zeta 电位测量范围：-500 mV ～ +500 mV
分子量测量原理：Debye plot
分子量测量范围：1000 ～ 2×107 Da
测量角度：90° 和173°（可自动或手动选择）
样品量：12μL ～ 1000μL
