$item.Name

首页>行业专用仪器及设备>其它行业专用仪器>其它专用仪器

FR-Basic UV/NIR-HR 膜厚仪

型号
FR-Basic UV/NIR-HR
参数
产地类别:进口 应用领域:医疗卫生,生物产业,电子,航天,汽车
迈可诺技术有限公司

中级会员11年 

代理商

该企业相似产品

立式反射率测试仪

在线询价

自动显微薄膜厚度测绘仪

在线询价

自动光学薄膜厚度扫描测绘仪

在线询价

光学薄膜厚度测量仪

在线询价

扫描型薄膜在线测厚仪

在线询价

基础型膜厚仪(紫外/近红外-高分辨率)

在线询价

便携式光学膜厚仪

在线询价

微米级光学薄膜测厚仪

在线询价
匀胶机,光刻机,显影机,等离子清洗机,紫外臭氧清洗机,紫外固化箱,压片机,等离子去胶机,刻蚀机,加热板

半导体化工领域专业实验设备供应商:迈可诺是一家富有创新精神的高科技公司,专业提供光电半导体化工实验室所需设备耗材的全套解决方案提供商,迈可诺从事开发、设计、生产并营销质量可靠的、安全易用的技术产品及优质专业的服务,帮助我们的客户和合作伙伴取得成功。我们成功的基础是帮助客户做出更好的选择和决定,尊重他们的决定,并协助他们实现高效率的科研成果,追求丰富有意义的生活。



详细信息

 

干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度,干涉条纹每移动一个条纹间距,光程差就改变一个波长(10-7),所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量精度之高是任何其他测量方法所*的。
、非接触式测量:避免物件受损。
、三维表面测量:表面高度测量范围为12nm - 120μm 
、多重视野镜片:方便物镜的快速切换。
、纳米级分辨率:垂直分辨率可以达0.1nm
5、高速数字信号处理器:实现测量仅需几秒钟。
、扫描仪:闭环控制系统。
7、工作台:气动装置、抗震、抗压。
、测量软件:基于windows 操作系统的用户界面,强大而快速的运算

FR-Basic UV/VIS

200nm - 850nm

1nm - 80μm

FR-Basic VIS/NIR

350nm – 1000nm

12nm - 120μm

FR-Basic RED/NIR

700nm – 950nm

200nm - 250μm

FR-Basic UV/NIR-HR

200nm - 1100nm

1nm - 120μm

FR-Basic UV/NIR-EXT  

200nm - 1000nm          

3nm - 80μm

FR-Basic NIR

900nm - 1700nm

100nm - 200μm

FR-Basic D VIS/NIR

FR-Basic D UV/NIR

350nm – 1700nm

200nm – 1700nm

12nm – 300μm

1nm – 300μm

相关技术文章

同类产品推荐

相关分类导航

产品参数

产地类别 进口
应用领域 医疗卫生,生物产业,电子,航天,汽车
企业未开通此功能
详询客服 : 0571-87858618
提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :