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X-Strata 920/MAXXI 6 英国牛津台式XRF镀层测厚仪
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- X-Strata 920/MAXXI 6
宁波经济技术开发区利盛仪器有限公司是一家仪器仪表集成供应商，为一站式仪器采购平台。公司成立于2009年，专业经营仪器仪表，检测设备，五金工具类，主要服务于化工厂，机械加工厂等生产性企业，为企业提供专业和完善的产品检测和设备维修保养解决方案。公司与国内外多家和厂家建立了*稳定的合作关系。公司实力雄厚，产品品种齐全、质量过硬、价格合理。
经营理念：重信用、守合同、保质量，薄利多销；以专业的角度为客户量身定制解决方案，为客户带来实实在在的效益。
主营产品：现场动平衡仪，激光对中仪，轴承加热器，测振仪，三坐标测量机，直读光谱仪，盐雾试验箱，高低温材料试验箱，材料试验机，硬度计，超声波探伤仪，红外线测温仪，红外热成像仪，超声波测厚仪，涂层测厚仪，色差仪，粗糙度仪，影像测量仪，金相分析仪，管道测漏仪，超声波流量计，转速表，气体检测仪，电子秤，地磅等等。
技术服务：检具三坐标测量服务，工件尺寸三坐标测量服务，设备现场动平衡校正服务，联轴器对中校正服务，设备振动定期监测改善服务，全厂设备总体检，设备红外线热成像检测服务，地下管道泄漏检测服务等等。
维修服务：三坐标测量机维修，盐雾箱维修，硬度计维修，高低温试验箱维修，影像测量仪维修，电子秤维修，碳硫分析仪维修等等。
详细信息
英国牛津台式XRF镀层测厚仪 X-Strata 920/MAXXI 6
微聚焦XRF镀层测厚及元素分析仪，用于PCB/PWB精饰和电子配件电镀的快速质量控制和验证测试，让您在几秒内轻松得到正确结果。
我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析，可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。
英国牛津台式XRF镀层测厚仪 X-Strata 920/MAXXI 6
优化的微聚焦硬件和直观的用户界面，简化了常规分析，提高了产出，使用“一键式”操作可确保zui简单的培训就能同专业技术人员得到一样的结果。高级用户能容易地理解X荧光光谱，获得定制的校准和探索未知的材料。
X-Strata 和 MAXXI 系列产品能分析功能性涂料和电路板、电子元器件、集成电路（IC）、硬盘驱动器（HDD）和光电产品上的镀层。
PCB/PWB 镀层
控制电镀过程的能力决定了板的间距，可靠性和使用周期。根据IPC，IPC 4552 4556 测量化学镀镍（EN，NIP）镀层的厚度和成分。牛津仪器产品使您的操作符合严格要求，以确保高品质，避免昂贵的返工成本。
电气和电子元件镀层
组件必须按照规格来镀层，以提供所需的电气，机械和环境性能。使用开槽式样品舱的X-Strata和MAXXI系列产品测量小物件或长条状样品，以控制引线框架层（框架），连接器引脚，电线和端子的镀层。
IC基板封装
半导体正变得越来越小型化和复杂化，需要分析仪器来测量小面积的薄膜。牛津仪器分析设备是专为要求苛刻的应用提供高精度分析和可重复性的样品定位。
电子制造服务（EMS，ECS）
组合外来和本地制造的组件，以建立一个zui终的组件或产品涉及许多测试点，从来料检验到在线过程控制到zui终的质量控制。牛津仪器微聚焦XRF产品让您分析部件、焊料和成品，确保每一步的质量。
光伏
随着光伏在太阳能利用中扮演着重要的角色， 对可再生能源的需求不断增加。有效地收集这种能量的能力，部分取决于薄膜太阳能电池的质量。使用微聚焦XRF镀层测厚仪能确保这些电池镀层的精确性和*性，以达到zui高的效率。
受限材料和高可靠性筛选
在供应链化的环境下，验证来料可靠性非常重要。使用牛津仪器XRF技术检验来料是否符合规范，例如RoHS、ELV，IEC 62321方法，确保航空和军事应用的镀层可靠。
X-Strata 920/MAXXI 6应用/技术指导
X-Strata 920 正比计数器 | MAXXI 6 高分辨率 SDD1 | |
|---|---|---|
| ENIG | ✔ | ✔✔✔ |
| ENEPIG | ✔ | ✔✔✔ |
| 化学镀镍厚度及成分 (IPC 4556, IPC 4552) | ✘ | ✔✔✔ |
| Electroless nickel thickness | ✔ | ✔✔✔ |
| Immersion Ag | ✔ | ✔✔✔ |
| Immersion Sn | ✔ | ✔✔✔ |
| HASL | ✔ | ✔✔✔ |
| 无铅焊料 (如SAC) | ✔ | ✔✔✔ |
| CIGS | ✘ | ✔✔✔ |
| CdTe | ✘ | ✔✔✔ |
| 纳米级薄膜分析 | ✘ | ✔✔✔ |
| 多层分析 | ✔ | ✔✔✔ |
| IEC 62321 RoHS 筛选 | ✘ | ✔✔✔ |
1 – 对比正比计数器系统，高分辨率SDD探测器通常能够检测更薄及更复杂的应用
