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SE200BE-M450 大型光谱椭偏仪
高级会员第8年
经销商孚光精仪是进口精密仪器和实验室仪器设备供应商,是*基于激光和成像等光子技术分析测试仪器的规模性进口商和代理商,服务商。
孚光精仪公司以精密光学技术为特色,以光学应用为宗旨,以欧洲,北美和日本进口精密仪器为主业,为中国客户提供*分析测试仪器产品,促进光学技术产品在中国的应用和相关技术水平提升。
21世纪是光学世纪,激光,光谱,光学成像等光学技术极大地促进生物光子学,燃烧和流体力学光学诊断,光谱测试分析等学科发展和技术提升,成为前沿科学和先进制造*的分析,计量,测试和实验工具手段,因此“光学”成为“精密”的代名词,是*精密测试分析的有力实验技术。
孚光精仪公司就是这样一个以光学为特色的进口仪器和实验室设备公司,拥有齐全的进口精密(光学)仪器种类,庞大而可靠的国外生产商群体,和快捷高效的贸易体系,是用户信赖的进口分析测试技术仪器和实验室仪器的旗舰型供服务商。
公司品牌释意
孚:信服/conviction,
光:光学/optics
精:精密/
precision
仪:仪器/Instruments
我们信服于光学,致力于光学精密仪器事业。
公司价值
孚光精仪-精通光学,服务科学
经验丰富的激光和光学技术工程师帮助用户出具方案,确认适合应用的精密
光学仪器和科学仪器装置,为用户提供“舒心,省心”的进口体验。荧光光学成像仪器 (包括FRET系统,TIRFM显微镜系统, 钙成像显微镜系统,荧光寿命成像系统,生物发光和荧光发光成像系统等生物光子学仪器)
分子生物学
光学仪器( 包括凝聚成像,生物发光和荧光发光成像系统等)医用
光学仪器(内窥成像,生物活检成像,辐射成像等)光谱分析
测试仪器 (激光拉曼光谱仪, FTIR光谱仪,LIBS光谱仪等)激光粒度仪器 (基于激光和图像技术的粒度和浓度
测试仪器)光学成像仪器 (高速成像,红外热成像,X射线成像)
光谱成像系统 (包括高光谱成像,多光谱成像仪器)
燃烧和流体力学光学诊断技术和仪器 (基于激光和成像技术,融合光谱分析技术组建PIV,PLIF,温度探测,燃烧分析成像等仪器)
无损光学检测仪器(如果激光散斑干涉,EPSI,X射线成像,热成像,光学内窥等仪器)
AFM, SEM,SPM等特种光学显微镜
通用
实验室仪器和设备(包含所有涉及光学技术的实验仪器)生物光子学
生命科学
医学成像
制药
食品工程
化学和化工
实验室仪器和实验室建设
流体力学
工程热物理
燃烧诊断分析
发动机研发
航空航天
地球物理科学
地质和石油勘探
半导体和微电子
先进制造
新能源
材料科学
仪器科学与技术
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客户群体
高等院校
*系统研究院所
中国国有企业及其研究院所
外资企业
高效的服务体系
总部位于上海,在上海自贸区和天津自贸区具有仓库,在香港设立贸易公司,拥有遍布全国的代理商,供应商遍布美国、德国、英国、法国、意大利、奥地利、瑞典、捷克、立陶宛、爱沙尼亚等精密仪器优势国家和地区。
公司受益于香港便捷的贸易条件以及上海自贸区和天津自贸区的高效进口程序,为客户提供高效技术仪器进口服务,为制造商提供高效出口服务。
灵活的购买方式
孚光精仪在天津和上海均有进口公司,众邦企业(天津)贸易有限公司和辅光精密仪器(上海)有限公司,具有商检,报关,进出口等高贸易资质,为客户提供优质而专业的进口服务,帮助出口商/制造商完成清关服务,并送货到用户地址。
外方经理定期来华办公指导 工作园区一角\
公司电子*门办公一角 员工文化墙一角
用户的青睐和信任
我们高效的服务和质优价廉的产品赢得了广大的青睐和信赖,成为声誉*的*产品和服务供应商。国内的科研单位多次从我公司订购各种产品。如:
*上海光机所
*西安光机所
*安徽光机所
*长春光机所
*合肥物质研究院
*物理研究所
*光电研究院
*福建物质结构研究所
中国工程物理研究院
华中光电技术研究所
中国电子集团公司53所
清华大学
北京大学
中国科技大学
哈尔滨工业大学
山东大学
武汉大学
南开大学
天津大学
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大型光谱椭偏仪SE200BM-M450具有450mm直径样品台,提供更为安全的样品操作和定位,具有250-850nm的波长范围,是美国Angstrom公司为大尺寸样品薄膜厚度测量而设计的美国进口光谱椭偏仪,Spectroscopic,Ellipsometer,具有高性价比椭偏仪价格和椭偏仪品牌。
与反射计或反射光谱技术不同的是,光谱椭偏仪参数Psi 和Del并非在常见入射角下获得。通过改变入射角大小,可获得许多组数据,这样就非常有助于优化椭偏仪测量薄膜或样本表面的能力,因此变角椭偏仪功能远远大于固定角椭偏仪。
改变椭偏仪入射角的方法有两种,一种是手动调节,一种是自动调节入射角,我们可提供两种模式的椭偏仪。
大型光谱椭偏仪特色
特别为大尺寸晶圆等样品薄膜测量而设计
易于安装,拆卸和维护
良好的光学设计
自动改变入射角,入射角分辨率高达0.01度
高功率光源适合多种应用
采用阵列探测器确保高速测量
测量薄膜膜堆的薄膜厚度和折射率
可用于实或在线监测薄膜厚度和折射率
具有齐全的光学常数数据库
提供工程师模式,服务模式和用户模式三种使用模式
灵活的工程师模式用于各种安装设置和光学模型测量
一键快速测量
全自动标定和初始化
精密样品准直界面直接样品准直,不需要额外光学
精密高度和倾斜调整
适合不同材料和不同后的样品衬底基片
2D和3D数据显示输出
大型光谱椭偏仪参数
波长范围:250-850nm
波长分辨率:1nm
测量点大小:1-5mm可调
入射角:0-90度可调
入射角分辨率:5度
可测样品大小:高达450mm 直径
可测样品厚度:高达2mm
测量薄膜厚度:0nm ---20um
测量时间:~1s/点
精度:~0.25%
重复精度:<1A