冷热冲击测试箱适用范围:用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,都会用到,是各领域对产品测试的一项测试箱。
一、性能指标:
1.温度范围:A:0℃~150℃;B:-20℃~150℃;C:-40℃~150℃;D:-55℃~150℃;F:-65℃~150℃
2.温度波动:≤±0.5℃
3.温度均匀:≤±2℃(箱内每个角落的分布误差或者偏差)
4.耐冷热老化转换时间小于等于10秒。
5.耐冷热老化温度恢复时间小于等于5分钟。
6.样品承重:有25KG;35KG;50KG;60KG(备注,一般设备的隔层承重约25KG;
二、型号尺寸:
1.型号(CM):AP-CJ-162 工作室尺寸:45*45*45 外型尺寸:156*87*154.5 样品区尺寸:30*30*25 功率:6.5(KW)
2.型号(CM):AP-CJ-340 工作室尺寸:60*60*60 外型尺寸:171*102*184.5 样品区尺寸:45*45*36 功率:8.6(KW)
3.型号(CM):AP-CJ-500 工作室尺寸:80*80*80 外型尺寸:191*122*226.5 样品区尺寸:65*65*50 功率:13.5(KW)
4.型号(CM):AP-CJ-1000 工作室尺寸:100*100*100 外型尺寸:211*142*266.5 样品区尺寸:85*85*70 功率:15.5(KW)
三、产品特点:
1.造型升级,操作简单之面板接口。
2.采用OYO9226S彩色触控LCD中/英文微电脑温度控制器。
3.立式三箱结构,高低温箱循环过程自动控制,停留及转换时间可调,不锈钢内胆,多形式记录。
4.设有多重安全保护措施及装置。
5.完善的保护报警功能:当出现短路、漏电、工作室超温;压缩机超压、过载、油压、断水等异常状况时,荧幕上即刻自动显示故障原因及提供排除方法,并当发现输入电压不稳时,具有紧急停机装置。
6.结构移动时间在10秒内。
7.冷热冲击温度恢复时间在5分钟内,可符合MTL,IEC,JIS,GJB等规范。
8.可扩充设备:温度记录器。
9.RS-232通信接口装置,可与个人计算机同时进行监控及记录。
10.功能模块:此设备分为高温区、低温区及测试区三部分,采用*的断热结构及蓄热、蓄冷效果,采用冷热风15、路切换方式导入试品中,做冷热冲击测试。
11.采用原装日制微电脑大型液晶(320*240dots)中英文显示控制系统。
12.zui多120 程度,3个段. 每一個命令可達999次; 程式段時間設定0~99Hour59Min。
13.具有RS-232C通信介面装置,可与电脑连线控制/编辑/记录及十组动态链接使用便捷。执行冷热冲击条件时,可选择2 Zone 或3 Zone之功能。
14.具备全自动,高精度系统,任一机件动作,*由P.L.C锁定处理。
15.机件故障时,配自动线路及警示讯号,发现输入电压不稳定时,具有紧急停机装置。
四、测试方法:
1.实验前对受试产品做好机械性能(外观和内部结构)和电气性能检查,确保产品机械性能和电气性能正常。
2.将产品合理的布置于冷热冲击箱中,产品和环境温度箱四壁间应留有足够大的空间,以便于空气流通。
3.按标准规范选择冷热冲击测试条件。
4.选定冷热冲击测试从高温开始,按启动键启动冷热冲击测试。
5.实验做好设定的循环次数后自动停止。
6.实验结束后将产品从冷热冲击箱中取出,在常温下恢复直到产品环境温度稳定。
7.观察实验后的产品有无机械损伤(如表面翘曲、破裂、元器件松动、脱落等)并检查电气性能有无异常。
8.如果产品发生上述的机械损伤或电气性能指标不符合相关规范,即认为产品也损坏,完整填写实验记录表。
9.对实验暴露的薄弱点做好分析,提出整改措施。