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OLYMPUS奥林巴斯BX53P偏光显微镜

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产地类别:进口
上海辛茨精密仪器有限公司

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上海辛茨精密仪器有限公司是一家专注于光学显微解决方案,清洁度检测设备生产销售公司,公司拥有自主研发团队、销售团队,售后服务团队,我们在苏州设有生产基地,并建立标准化光学检测实验室。

现依据ISO16232VDA19清洁度标准自行开发的清洁度分析系统、清洁度萃取设备已全替代进口产品,服务各大汽车零部件及动力电池客户,为传统汽车零部件及新能源汽车行业客户提供整套一站式清洁度解决方案。

公司经营理念: 客户至上、品质至上专业专注、合作共赢

我们坚信客户的满意是我们前进的动力,欢迎咨询我司产品,我们将与您共前行。

 

主营业务:

1、汽车零部件清洁度检测设备生产与销售,提供自动清洁度分析系统,自动清洁度萃取设备,干法颗粒提取系统,清洁度检测耗材,清洁度实验室规划建设,ISO16232/VDA19清洁度检测培训。

2清洁度检测设备定制化服务OEM

3、根据用户不同需求提供各类OLYMPUS奥林巴斯显微镜ZEISS蔡司材料显微镜,NIKON尼康显微镜,LEICA徕卡显微镜,并提供与显微镜配套的摄像装置、图像分析软件、电动扫描台、以及显微镜相关产品和技术服务。

4、代理销售材料分析设备:SEM电子扫描显微镜,金相制样设备,光谱仪,硬度计等材料检测仪器。


详细信息

OLYMPUS奥林巴斯BX53P偏光显微镜

OLYMPUS奥林巴斯BX53P偏光显微镜具有鲜明的偏光成像,是地质学家的理想之选。比如矿物鉴定、晶体光学特性的分析和岩石薄片的鉴定等各种研究,都得益于稳定的显微镜系统性和精密的光学系统。

用于锥光镜检和正像镜检的勃氏镜

采用U-CPA锥光观察附件使锥光镜检和正像镜检之间的切换简单而快捷。可以清晰地对焦后焦平面的干涉图样。勃氏镜的视场光阑使其能够始终获取锐利而清晰的锥光图像。

无应力光学元件

UPLFLN-P无应力物镜得益于奥林巴斯*的设计和制造技术,将内部应力降到了zui低。这就意味着更高的EF值,从而可以得到的图像反差。

种类丰富的补色器和波长板

提供了六种不同的补色器,用于测量岩石和矿物薄片的双折射。测量光程差水平范围从0到20λ。针对更方便的测量和高图像反差, 可以使用B e r e k 和Senarmont补色器,它们能在整个视场内改变光程差级别。

各种补偿板的延迟测量范围

补偿板

测量范围

主要用途

U-CTB厚型Berek

0-11,000nm

较大的延迟测量(R*>3λ)。(结晶、高分子、纤维、光弹性失真等)

U-CBE Berek

0-1,640nm

延迟测量(结晶、高分子、纤维、生物体组织等)

U-CSE Senarmont

0-546nm

延迟测量(结晶、生物体组织等)对比度增强(生物体组织等)

U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ

0-55nm

微小延迟测量(结晶、生物体组织等)
对比度增强(生物体组织等

U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ

0-20nm

U-CWE2 石英楔子

500-2,200nm

延迟的近似测量(结晶、高分子等)

*R表示延迟。
为提高测量精度,建议与干涉滤镜45IF546一起使用。(U-CWE2除外)

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