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X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
- 型号
- X-Strata920
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日立分析仪器是日立高新技术集团旗下的一家全球性公司。该公司总部位于英国牛津，在芬兰、德国和中国有研发和组装业务，在全球多个国家有销售和支持业务。日立分析仪器的产品系列包括：
§ 微焦斑XRF镀层分析仪：FT230以及FT160、FT110A和X-Strata920可测量单层和多层镀层（包括合金层）的镀层厚度，适用于质量控制或过程控制程序以及研究实验室。
§ 专业RoHS分析仪：日立的EA1400、EA1000AIII、EA6000VX和HM1000A分析仪专为“有害物质限制”分析而设计，快速且易用，其灵活性能确保适应不断发展的法规规定。
§ 锂离子电池分析：EA8000A X射线粒子污染物分析仪专用于快速有效地控制锂离子电池生产的质量。
§ 热分析：热分析系列仪器DSC600、DSC200、STA、TMA7100、TMA7300和DMA7100已经过优化，可检测和显示超小的反应，同时具有稳定可靠和易用等特点。
§ 手持式分析仪：数以千计的企业使用X-MET8000的精密XRF技术以简单、快速、无损分析的方式实现合金分析、废金属分拣和金属牌号筛查。Vulcan由LIBS激光技术驱动，可在一秒钟内识别金属合金；非常有利于企业处理大量金属，是世界上超快速分析仪之一。
§ 多功能台式XRF分析仪：Lab-X5000和X-Supreme8000为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多个行业提供高度可靠的质量保证和过程控制。
§ OES金属分析仪：全球许多行业使用OE750、PMI-MASTER、FOUNDARY-MASTER和TEST-MASTER系列直读光谱仪进行高精密度金属分析。
详细信息
X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪，具有多种选择，可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层，是必须确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析的理想选择。
X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪的优势在于其多功能性。您可以从多种配置中进行选择，包括五种基本配置以适应不同尺寸的样品、六种准直器尺寸用于优化分析不同尺寸的特征，以及有助于加快测量过程同时保持准确性的附加自动化功能。X-Strata920 易于使用，软件直观，可由非专业人员操作，并可轻松融入您的生产或质量保证部门。
产品亮点
X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪具有多种选项和多功能性，可容纳各种样品，每次都能提供精确的分析。
适应性设计，可对各种产品进行可靠分析
自动对焦和可选的程控台提高了准确性和速度
直观的 SmartLink 软件使测量和导出数据变得容易
多准直器设计为每个样品提供高准确性
选择适合应用的比例计数器或硅漂移检测器 (SDD)
符合行业规范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987
简单的样品加载和快速分析可在几秒钟内提供结果
强大的光学分析单层和多层镀层，包括合金层
对比型号
X-Strata920 （正比计数器） | X-Strata920 （硅漂移探测器） | |
| 元素范围 | Ti – U | Ai – U |
| 样品舱设计 | 开槽式 | 开槽式 |
| XY 轴样品台 | 固定台、加深台、自动台 | 固定台、加深台、自动台 |
| 最大样品尺寸 | 250(宽)x200(深)x50(高)mm | 250(宽)x200(深)x50(高)mm |
最大准直器数 | 6 | 6 |
最大滤光片数 | 3 (secondary) | n/a |
最小准直器 | 0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil) | 0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil) |
最大样品台行程 | 178 x 178 mm | 178 x 178 mm |
SmartLink 软件 | ✔️ | ✔️ |
| 询价 | 询价 |
