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FT230 (SDD检测器) 台式XRF镀层测厚仪
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- FT230 (SDD检测器)
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日立分析仪器是日立高新技术集团旗下的一家全球性公司。该公司总部位于英国牛津，在芬兰、德国和中国有研发和组装业务，在全球多个国家有销售和支持业务。日立分析仪器的产品系列包括：
§ 微焦斑XRF镀层分析仪：FT230以及FT160、FT110A和X-Strata920可测量单层和多层镀层（包括合金层）的镀层厚度，适用于质量控制或过程控制程序以及研究实验室。
§ 专业RoHS分析仪：日立的EA1400、EA1000AIII、EA6000VX和HM1000A分析仪专为“有害物质限制”分析而设计，快速且易用，其灵活性能确保适应不断发展的法规规定。
§ 锂离子电池分析：EA8000A X射线粒子污染物分析仪专用于快速有效地控制锂离子电池生产的质量。
§ 热分析：热分析系列仪器DSC600、DSC200、STA、TMA7100、TMA7300和DMA7100已经过优化，可检测和显示超小的反应，同时具有稳定可靠和易用等特点。
§ 手持式分析仪：数以千计的企业使用X-MET8000的精密XRF技术以简单、快速、无损分析的方式实现合金分析、废金属分拣和金属牌号筛查。Vulcan由LIBS激光技术驱动，可在一秒钟内识别金属合金；非常有利于企业处理大量金属，是世界上超快速分析仪之一。
§ 多功能台式XRF分析仪：Lab-X5000和X-Supreme8000为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多个行业提供高度可靠的质量保证和过程控制。
§ OES金属分析仪：全球许多行业使用OE750、PMI-MASTER、FOUNDARY-MASTER和TEST-MASTER系列直读光谱仪进行高精密度金属分析。
详细信息
概要：
FT230台式XRF镀层测厚仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间，因此推出了一个有着突破性的分析仪，其可以有效地 "设置 "自己，使得在过程中可以分析更多的零件。
自动化和创新软件是FT230台式XRF镀层测厚仪的特点。智能识别模块，如Find My Part™（查找我的样品），意味着操作者只需装载样品，确认零件，FT230就会处理其余的事情。它将在您的部件上找到正确的测量位置--即使是在大型基材上--选择正确的分析程序并将结果发送到您的质量系统。减少了时间和人为的错误，使得你可以在更短的时间内完成更多的分析，使高效率的检查在繁忙的生产环境中更加现实。
产品亮点
FT230的每一个部分都是为了大幅减少分析时间而设计的。
· 自动聚焦减少样品装载时间
· Find My Part™ 自动进行智能识别以设置完整的测量程序
· 屏幕大部分区域用来显示样品视图，提供了不俗的可视度
· 自检诊断程序确保了仪器的状况和稳定性
· 与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据
· 由于采用了新的用户界面，非专业人员也能直观、方便地使用。
· 功能强大，可同时测量四层镀层也可分析基质
· 经久耐用，在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长
· 符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准
· 帮助您满足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸没锡（IPC-4554）和浸没银（IPC-4553A） 的规格要求
FT230 台式 XRF 分析仪 | |
| 元素范围 | 铝 (13) - 铀 (92) |
| 探测器 | 硅漂移探测器 (SDD) |
| 样品台设计 | 开槽和闭合 |
| XY 样品台设计 | 电动或固定 |
| XY 样品台行程 | 250 x 200 mm |
| 电动Z轴行程 | 205 mm |
| 最大样品尺寸 | 500 x 400 x 150 mm |
| 直准器数量 | 4 |
| 焦点激光 | 包含在标准配置内 |
| 自动对焦 | 可选 |
广角摄像机 | 可选 |
距离无关测量 | 可选 |
Find My Part™ 智能识别功能 | 可选 |
镀层测量 | ✔️ |
RoHS 筛查 | ✔️ |
软件 | FT Connect |
