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SYS-SC-X 小麦品质分析和面粉麸星检测仪
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生产厂家丹东中仪电子设备有限公司是专业从事科学仪器生产商,代理商,公司集研发、生产和销售应用于土壤、气象、种子、植物生理、环境、粮油食品等农业生态领域检测仪器仪表,为农业、林业、气象、水利、环境、农产品检测等相关领域提供综合解决方案。
让选购仪器变得简单高效是我们一直努力的方向,客户的满意是我们坚持不懈的目标,我们一直以合理的价格,过硬的质量,个性化的服务努力与新老客户朋友们共创双赢。
小麦品质分析和面粉麸星检测仪用途:
快速测量小麦的粒数、千粒重、粒形、霉变率、芽麦率、黑胚率、破损率等,面粉的麸星、砂石的大小和含量。用于实验室快速检测获得批处理数据(包括小麦粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度或饱满度、籽粒颜色、霉变率、芽麦率、黑胚率、破损率等;面粉的麸星、砂石的大小和含量)。小麦品质检测方法符合GB5504-85《粮食、油料检验小麦加工精度检验法》、GB/T 27628-2011《粮油检验 小麦粉粉色、麸星的测定》中的小麦粉麸星测定方法。
小麦品质分析和面粉麸星检测仪特点:
仪器由光学成像系统、智能分析软件、220g量程1mg精度电子天平组成。系统具有的自学习能力,实现人性化的一键式智能分析,并可交互修正个别的分类错误点,以达到正确分类结果。该分析系统能大批量处理,自动分析300个以上小麦和面粉样品的高分辨率图像。由专业软件分析成像后的彩色图像,准确、快速地测定小麦的粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度、籽粒饱满度(即:可按面积自动排序及输出)、籽粒颜色、霉变率、芽麦率、黑胚率、破损率等指标,以及面粉中的麸星粒数和大小、麸星面积比和对应的砂石占比。软件能让用户实时看到真实样品分析过程情况,并交互修正;当面粉指标偏离设定参数时,可报警显示;用户可随意查询检测结果,并打印。所有测试图像分析结果和数据可在电脑上显示并保存。数据准确可靠,结果稳定、重复性高;样品可重复测试,重现性高。
主要性能指标*:
zui大分析面积:小麦为A4纸幅面;面粉为35mm×35mm
测量时间:小麦≤2分钟/样品;面粉≤1分钟/样品视野。
小麦千粒重测量重复性误差±≤0.5%
两次扫描单面分析外观品质的重复性误差±≤2.0%
可接入条码枪来自动刷入样品编号,分析结果可对应样品编号输出至EXCEL表,分析图像标记结果可保存。
仪器规格配置:
带RS232线电子天平(220g量程、1mg精度)1台,LED光源、zui高光学分辩率4800×9600dpi双光源彩色扫描仪1台,单目体视显微镜+300万像素相机1套、微型手动移动平台1套,小麦外观品质分析、面粉麸星检测软件光盘1张(含电子版操作手册)、软件锁1只,籽粒收纳盘1个,紧粉用面粉成像小盘1付。(电脑需另配)
仪器总尺寸、总重量:宽×深×高约50cm×40cm×12cm,~13kg。