Lambdafire™是一款*的软件系统，能够控制CRAIC显微分光光度计和分析数据。 Lambdafire™能够实现仪器的*控制以及*的成像和强大的数据分析处理，同时多功能的插件模块能够实现更多的软件功能，如自动化控制、光谱三维绘图、薄膜厚度测量等多种功能。

      CRAIC的Lambdafire™软件系统，能够使CRAIC显微分光光度计用户实现仪器控制、光谱获得、成像以及光谱和图像的分析。

Lambdafire™软件系统不仅能使您对CRAIC显微分光光度计实现*控制，同时能够通过对样品进行透射、吸收、反射、偏振、荧光和拉曼谱仪检测，获得高品质的光谱信息和图像，并能精确和详尽的进行数据和图像分析处理，特别是配有自定义的触屏式图像处理界面操作。Lambdafire™能够提供手动或者全自动化的仪器控制。

    Lambdafire™软件包:
◆一个易于使用的显微分光光度计控制和分析的软件模块
◆显微分光度计自动化控制盒编程
◆拥有许多*设计，*的支持科研和生产
◆ 图像和光谱的分析处理
◆多种插件模块可选，如5D Spectal Mapping™、薄膜厚度、比色分析等
◆触摸屏设计和易于操作的显微光谱分析专家

CRAIC FilmPro™薄膜厚度

CRAIC FilmPro™能够通过反射率或透射率测量薄膜的薄膜厚度值。 您可以在微观区域和许多不同的基板上进行此操作。 这使您不仅可以分析硅等基板上的薄膜，还可以分析平板显示器和其他设备中常见的玻璃或石英薄膜。 与5D Spectral Mapping™结合使用时，您可以在表面上生成高度空间分辨率的薄膜厚度图。

CRAIC TimePro™ 动力学显微光谱
CRAIC TimePro™允许您测量微观样品区域随时间的光谱响应。 能够覆盖完整的紫外-可见-近红外范围，TimePro™可在您的时间间隔内生成3D显示。 它能够通过透射率、反射率、发射、偏振或拉曼来测量光谱，并显示样品的变化情况。
CRAIC  ColorPro™比色法

当添加到CRAIC显微光谱仪时，您可以确定显微样品的比色值。 比色法计算可以在小至1微米的样品上进行，并且可以在反射率、透射率甚至荧光光谱上进行。 用CRAIC显微光谱仪数据计算的比色法空间包括CIE XYZ，CIE LAB等。

GeoImage™地质分析软件

CRAIC GeoImage™是一种新的地质分析工具，仅使用高分辨率数字成像代替光谱学。 从相机收集图像并逐个像素地分析以测量镜质体反射率。除了具有点计数选项外，该软件还可以自动扫描整个样本。用于使用标准测试方法ISO 7404-5、ASTM D2798和GB/T 6948进行有机岩相分析。

GeoImage™通过读取摄像头每个像素的镜质体反射强度来工作。这意味着，在标准配置中，可以同时测量数百万个点，使镜质体反射率测试快速，简单且准确。 GeoImage™可配置为测量煤、干酪根和石油源岩以及其他许多材料的反射率。凭借灵活的设计，GeoImage™具有点计数功能，测试过程自动化和高分辨率彩色成像，将轻松满足煤炭测试方法和您自己实验的未来变化。