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SYS-YHD(S) 数显叶片厚度仪

型号
SYS-YHD(S)
参数
产地类别:国产 应用领域:农业
丹东中仪电子设备有限公司

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详细信息

数显叶片厚度仪主要功能

叶片是植物重要的器官,其厚度变化可以反映出植物生长状态的变化,如光合作用、水分情况、蒸腾情况、土壤温湿度情况、养分情况等。研究表明,叶片厚度变化具有周期规律性,可分为长周期和短周期(24小时)。掌握这些规律对研究植物水分状态具有重要意义,还可以通过这些规律指导农业节水灌溉。是一种专业测量叶片厚度的工具,可以精准的测量出叶片的厚度。

通常的灌溉系统是以空气的温度、湿度以及土壤的湿度作为控制参数,属于开环控制。针对这一问题,提出了以植物的器官(叶片、茎杆、果实)的几何参数为控制参数的智能节水灌溉控制系统,属于闭环控制。

数显叶片厚度仪技术参数:

测量范围:0--10mm                             

分辨率:0.01mm和0.001mm

精  度:0.01mm和0.001mm

接触面积:Φ10mm

读取装置:数显

现货,厂家直发,*

    公司坚持质量回访,对每一台销售的仪器负责技术培训,答疑解惑,保修维修等售后服务活动,深受用户信赖。业精于专一,功成于勤奋,我们将进一步集中公司和高等院校的科研优势,以更加较为较为较为较为较为较为较为较为较为较为良好的产品,过硬的质量,优惠的价格,全面的服务来赢得您的光顾。

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产品参数

产地类别 国产
应用领域 农业
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