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FIB-SEM 超高分辨双束FIB

型号
FIB-SEM
参数
背散射电子图像分辨率:0.8nm 产地类别:进口 二次电子图象分辨率:103nmnm 放大倍数:2500000x 加速电压:30kV 价格区间:250万-300万 仪器种类:场发射 应用领域:医疗卫生,生物产业,电子
北京亚科晨旭科技有限公司

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半导体设备,微组装设备,LTCC设备,化工检测设备

公司自成立以来就一直专注于半导体、微组装和电子装配等领域的设备集成和技术服务;目前公司拥有一支在半导体制造、微组装及电子装配等领域经验丰富的专业技术团队,专业服务于混合电路、光电模块、MEMS、先进封装(TSV、Fan-out等)、化合物半导体、微波器件、功率器件、红外探测、声波器件、集成电路、分立器件、微纳等领域。我们不仅能为客户提供整套性能可靠的设备,还能根据客户的实际生产需求制订可行的工艺技术方案。
目前亚科电子已与众多微电子封装和半导体制造设备企业建立了良好的合作关系(如:BRUKER、EVG、TRYMAX、CAMTEK、CENTROTHERM、SENTECH、ENGIS、ADT、SONOSCAN、ASYMTEK、MARCH、PANASONIC、HYBOND、OKI、KEKO等),为向客户提供先进的设备和专业的技术服务打下了坚实基础。

 

详细信息

S8000G是TESCAN新S8000系列扫描电镜的第yi个新成员,是一款超高分辨双束FIB-SEM系统,它可以提供的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以ji佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作,可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。

S8000G FIB-SEM的优点:

  • 新yi代镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力

  • *配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分辨成像及分析

  • 配置4个新yi代探测器,可实现9种图像观测,对样品信息的采集更加全面

  • 配置大型样品室,有超过20个扩展接口,为原位观测、分析创造了良好的工作环境

  • 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件,并du家实现与TOF-SIMS、Raman联用

  • 新yi代操作软件和自动功能,FIB镜筒具有全自动的离子镜筒对中,ji大简化了操作

  • 概述


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产品参数

背散射电子图像分辨率 0.8nm
产地类别 进口
二次电子图象分辨率 103nmnm
放大倍数 2500000x
加速电压 30kV
价格区间 250万-300万
仪器种类 场发射
应用领域 医疗卫生,生物产业,电子
企业未开通此功能
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