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Dexela1207/1512/2307/2315 Dexela2923数字射线平板探测器
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代理商增宜检测技术(上海)有限公司是一家专注于无损检测设备,理化分析计量仪器,实验室科研器材销售及服务的一站式集成供应商。公司代理许多上享誉*的先进产品。
我们提供的工业产品包括超声波检测仪、涡流仪、激光间隙测量仪、X射线机、平板探测器、磁粉探伤机、着色渗透剂、声发射检测仪器、泄漏仪、内窥镜、显微镜、硬度计、合金光谱仪、金相分析仪、红外热像仪及其它实验室试验检测设备。
我们的产品广泛应用于造船、汽车、铁路、航空、石化、冶金、风电、核工业、军工、特检和高校科研等多个行业领域,并赢得了广大用户的良好口碑。
公司秉承“至信卓业,客户至上”的经营宗旨,崇尚“专业,高效,共赢”的服务理念,为广大客户提供优质的产品,优质的服务。我们期待成为您长期且可信赖的合作伙伴。
主要代理如下公司产品:
奥林巴斯测厚仪/探伤仪/显微镜/内窥镜/光谱仪
Third Dimension英国三维激光间隙测量仪
ZETEC探伤仪
GE美国通用电气测厚仪/探伤仪/显微镜/内窥镜/射线机
万睿视平板探测器/管头
Eddyfi & M2M探伤仪
美国磁通磁粉渗透
Eddyfi & M2M探伤仪
为了获得用于非破坏性测试成像的高分辨率的图像质量,请升级到1207N Varex Imaging CMOS(互补金属氧化物半导体)X射线平板探测器。
1207N CMOS平板探测器是具有出色灵敏度的高速,低噪声X射线探测器。 该探测器采用的大面积CMOS图像传感器技术,并提供了一系列闪烁器和接口选项。
CMOS平板检测器具有可切换的像素增益,这使其非常适合实时和计算机断层扫描(CT)成像以及具有高动态范围的静态成像。
1207N平板探测器的功能和优点包括:
为了获得用于非破坏性测试成像的高分辨率的图像质量,请升级到1512N Varex Imaging CMOS(互补金属氧化物半导体)平板探测器。
1512N CMOS平板探测器是具有出色灵敏度的高速,低噪声X射线探测器。 该探测器采用的大面积CMOS图像传感器技术,并提供了一系列闪烁器和接口选项。
CMOS平板检测器具有可切换的像素增益,这使其非常适合实时和计算机断层扫描(CT)成像以及具有高动态范围的静态成像。
1512N平板探测器的功能和优点包括:
CMOS平板检测器具有可切换的像素增益,这使其非常适合实时和计算机断层扫描(CT)成像以及具有高动态范围的静态成像。
2315N平板探测器的功能和优点包括: