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Dexela 1313数字射线平板探测器

型号
参数
应用领域:医疗卫生,能源,冶金,航天,汽车
增宜检测技术(上海)有限公司

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奥林巴斯超声波相控阵OMNISCAN MX2,英国三维Third Dimension GapGun Pro激光间隙测量仪,美国万睿视Varex射线数字平板探测器,奥林巴斯超声波探伤仪,奥林巴斯涡流探伤仪,内窥镜,元素分析仪,美国磁粉渗透

增宜检测技术(上海)有限公司是一家专注于无损检测设备,理化分析计量仪器,实验室科研器材销售及服务的一站式集成供应商。公司代理许多上享誉*的先进产品。

我们提供的工业产品包括超声波检测仪、涡流仪、激光间隙测量仪、X射线机、平板探测器、磁粉探伤机、着色渗透剂、声发射检测仪器、泄漏仪、内窥镜、显微镜、硬度计、合金光谱仪、金相分析仪、红外热像仪及其它实验室试验检测设备。

我们的产品广泛应用于造船、汽车、铁路、航空、石化、冶金、风电、核工业、军工、特检和高校科研等多个行业领域,并赢得了广大用户的良好口碑。

公司秉承“至信卓业,客户至上”的经营宗旨,崇尚“专业,高效,共赢”的服务理念,为广大客户提供优质的产品,优质的服务。我们期待成为您长期且可信赖的合作伙伴。

主要代理如下公司产品:

奥林巴斯测厚仪/探伤仪/显微镜/内窥镜/光谱仪

 

Third Dimension英国三维激光间隙测量仪

 

ZETEC探伤仪

 

GE美国通用电气测厚仪/探伤仪/显微镜/内窥镜/射线机

 

万睿视平板探测器/管头

 

Eddyfi & M2M探伤仪

 

美国磁通磁粉渗透

Eddyfi & M2M探伤仪

 

详细信息

Dexela 1313数字射线平板探测器

无损检测(NDT)

Varex提供从工业X射线管到线性加速器,从工业平板探测器到成像软件的无损检测(NDT)解决方案。

非破坏性测试(也称为非破坏性成像(NDI))是一种成像分析,涵盖了广泛的应用程序,可在不破坏材料本身的情况下评估材料的性能。 要求无损检测的一些应用包括:

  • 铸造检查
  • 焊接和管道成像
  • 电子检查

我们种类繁多的玻璃和陶瓷X射线管为无损检测应用提供了广泛的目标角度,焦点和功率功能。 对于需要不同参数和高分辨率成像的检查操作,Varex提供了具有小焦点的双聚焦管和单聚焦管以及带有铍(Be)的X射线管,用于低固有过滤。 这项技术可帮助专业人士分析管道和其他工业结构的完整性,而不会损坏所讨论的材料或系统。

Varex工业平板探测器还设计用于满足广泛的非破坏性测试应用。 通过提供各种尺寸的产品,我们的检测器有助于防止几何变形并*地减小磁场和辐射的影响。 我们的探测器技术使我们的客户能够利用的数字图像质量,高通量和CT功能。 这些检测器可在整个视场中呈现均匀,不失真的高分辨率图像,使技术人员可以拍摄更高质量的图像。 由于我们的平板检测器可以捕获数字图像并消除胶片需求,因此可以在更短的时间内捕获更多图像。

如果您的非破坏性测试需求要求您对需要更高能量的大型结构进行成像,那么我们的线性加速器是一种出色的解决方案,可帮助您对像火箭和其他航空航天产品一样大的物体成像。

 

满足您的无损检测需求的成像解决方案

Varex Imaging Nondestructive Testing X-ray Tubes

工业X射线管

Varex Imaging Industrial Flat Panel

工业平板探测器

Varex Imaging Linear Accelerator

直线加速器

计量与材料科学

材料科学和计量X射线系统提供了用于制造各种组件的测量解决方案,从微型和宏观零件到大型发动机和风力涡轮机,都变得更加坚固,安全和节能。

什么是材料科学? 从原子尺度看材料的结构并进行直接的结构测量。 有多种测量材料的X射线方法-包括计量,荧光,衍射和晶体学。 计量是指获取一组组件的CT图像以对其进行测量,对组件进行大量测试(例如应力,热循环和湿度),然后获取另一组CT图像并分析变化的过程。 X射线衍射和晶体学用于鉴定材料的原子特性。 X射线被晶体中原子的规则三维排列衍射,然后通过成像板或检测器记录所得的衍射图样。 从衍射图样可以诊断出它是一种特殊的材料。 将衍射图与计算机数据库中的衍射图进行比较,以找到匹配结果。 XRF(X射线荧光)是一种无损分析技术,用于确定材料的元素组成。 XRF分析仪通过测量样品在一次X射线源激发下发出的荧光(或二次)X射线来确定样品的化学性质。 它用于测试金属和涂层的厚度。

从科学研究到工业质量控制(例如:航空航天业的涡轮机铸件质量检查),我们的X射线组件都增强了测量技术,可确保在需要高精度的任何地方达到高质量标准。 和他们的:

  • 高动态范围和对比度
  • 高饱和剂量
  • 低剂量时具有高灵敏度和对比度
  • CMOS检测器的高速和低延迟
  • 低噪声
  • 能量范围广,目标材料不同
  • Varex Imaging X射线平板探测器和显像管为许多科学X射线应用提供了明显的优势。

 

 

满足您的材料科学需求的成像解决方案

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