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Detla 白光干涉测厚仪

型号
Detla
参数
产地类别:国产 价格区间:面议 应用领域:化工,生物产业,电子,印刷包装,纺织皮革
广州贝拓科学技术有限公司

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该企业相似产品

贝拓科学在线测厚仪TF200-VIS

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接触角测量仪、在线测厚仪、光学膜厚仪、红外光谱仪、拉曼成像光谱仪、拉曼电镜、低温恒温器、扫描探针显微镜/原子力、纳米压痕划痕仪、椭偏仪、热分析、差示扫描热仪

广州贝拓科学技术有限公司成立于2010年8月,是国家高业,广州科技小巨人企业,并在广东股权交易中心成功挂牌(股权代码:892081),通过ISO9001-2015质量体系认证和知识产权贯标认定体系,拥有近20项国家砖利。贝拓科学一直从事光谱分析仪器领域,自主研发仪器有光学接触角测量仪,显微拉曼光谱仪,表界面张力仪,白光干涉膜厚分析仪,阵列式紫外可见分光光度计,积分球式透反射率测试仪等。具备光学设计、机械设计、软件编写和算法编写核心能力,和中山大学、广州大学、华南师范大学有紧密的合作关系,并且是广州大学物理与光电学院的长期实习基地。贝拓科学所研发生产的产品定位在国内高水平,未来面向市场。

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贝拓科学陪伴着科学家一起探索未知事件,“Touch the future”作为我们的口号,贝拓科学尊重以严谨的科学理论为指导,为科学家提供有力的科研工具。我们默默坚持做前沿分析仪器的搬运工,陪伴科学家不断成长。我们很荣幸作为一些有仪器生产厂家,例如:日本Hitachi,德国WITec,德国Bruker,英国OXFORD,美国ThermoFisher,Ametek旗下输力强和普林斯顿,以及中国台湾OtO等大电子仪器厂家的代理,一起为中国的科学家提供专业的服务。

 

我们的宗旨是为科学学提供更专业,更贴心的服务。

我们的优势和专注点集中于材料测试方面,为了普惠科研工作者,我们还提供测试服务,其中包括材料的结构、元素分布、表面特征、物理化学特性以及光学、电学特性的分析。

材料分析领域代理品牌:

OXFORD(牛津)、FEI(赛默飞)、KeySight(前安捷伦纳米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI(日立)、OTO(中国台湾超微光学)、WITec(威泰克)、BRUKER(布鲁克)、普析、徕卡、本原纳米等。

 

 

 

详细信息

白光干涉测厚仪介绍  

白光干涉仪利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm,可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜,还可以测量n和k值。


白光干涉测厚仪特点

快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高

应用案例

应用领域

半导体(SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS,SOI等)

LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)

LED (SiO2、光刻胶ITO等)

触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)

汽车(防雾层、Hard Coating DLC等)


技术参数

型号

TF200-VIS

TF200-EXR

TF200-DUV

TF200-XNIR

波长范围

380-1050nm

380-1700nm

190-1100nm

900-1700nm

厚度范围

50nm-40um

50nm-300um

1nm-30um

10um-3mm

准确度1

2nm

2nm

1nm

10nm

精度

0.2nm

0.2nm

0.2nm

3nm

入射角

90°

90°

90°

90°

样品材料

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

测量模式

反射/透射

反射/透射

反射/透射

反射/透射

光斑尺寸2

2mm

2mm

2mm

2mm

是否能在线

扫描选择

XY可选

XY可选

XY可选

XY可选

注:1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。

      2.可选微光斑附件。



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产地类别 国产
价格区间 面议
应用领域 化工,生物产业,电子,印刷包装,纺织皮革
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