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TEM样品杆 透射电镜原位MEMS低温电学测量系统-样品杆
- 型号
- TEM样品杆
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北京麦迪森科技有限公司是一家集成真空、光电、测试系统的创新科技型企业，为科研用户和企业提供高性能产品及专业的测试系统集成方案，*与该领域的国内外制造商密切合作，共同解决用户的技术难题。
我们的产品主要包含真空、光学、测试系统三大类。真空类产品涵盖各种真空泵、真空腔体、真空法兰、真空阀门、真空接头及相关附件。光学类产品涵盖光谱仪、激光器、光学支架、减震台、高精度位移台、光学镜片等相关附件。测试系统涵盖电阻率测试系统、霍尔测试系统、半导体性能测试系统、磁光测试系统、变温光电测试系统及相关的高精密测试仪表。
详细信息
透射电镜原位MEMS低温电学测量系统-样品杆，透射电镜原位MEMS低温电学测量系统是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块，实现低温电学测量或全温区测量功能。
性能指标
透射电子显微镜指标：
● 兼容型号电镜及极靴；
● 单倾可选高倾角版本；
● 可选双倾版本，β角倾转±25°（同时受限于极靴）；
● 测量电极数可选。
电学测量指标：
● 包含一个电流电压测试单元；
● 电压输出大±200 V，小±100 nV；
● 电流测量大±1.5 A，小100 fA；
● 恒压或者恒流模式；
● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。
透射电镜原位MEMS低温电学测量系统-样品杆
低温指标：
● 兼容MEMS加热及电学芯片；
● 全温区测量，温度范围：85 K- 380 K；
● 控温稳定性：优于±0.1 K；
● 温度连续可控。
