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AMPTEK 100SDD 探测器
- 型号
美国Amptek公司 Amptek是一家成立于1977年的高科技公司，致力于设计并制造各种*探测器数据处理器等。公司产品广泛用于人造卫星、X射线和伽玛射线的探测、实验室、分析仪以及工业上的各类型便携式检测仪器。Amptek已经开发出一系列产品如等离子分析器、X射线探测器以及辐射监控器等，这些产品被广泛用于军事、科研和商贸等领域，在OEM厂商中占有非常高的使用率和良好的信用度.
详细信息
Amptek的SDD突破了传统的X射线探头技术，只需低温制冷系统便能更好地提升了性能。
特性
- 5.9keV处分辨率125ev
- 高峰背比-20000:1
- 25 mm2 x 500 μm
- 峰化时间11.2us
- 100,000cps
- USB控制
- 无需液氮
应用
- X射线荧光
- RoHS/WEEE指令
- OEM&特殊应用
- 过程控制
- 研究
XR100和X-123SDD探测器是Amptek具有革命性意义的新一代产品。
他们的高性能，小尺寸，低花费使得他们是OEM手持应用和台式分析的理想探测器。
SDD在很高的计数率下同样也可保持*的分辨率。探头和Amptek其他探头有着同样的TO-8封装。这样可以更方便的成为其他探头的替换品。
SDD是光电二极管的一种，其功能与SiPIN类似，但是因为其与众不同的电极结构，所以性能明显提升。SDD关键的优势是在同样探头面积下，比传统的二极管具有更低的电容，因此在很短的成型时间下减少了电子噪声。对于X射线光谱来说，SDD对比传统的二极管，在超高的计数率下有分辨率更好。因为SDD特殊的电极结构，所以电极较小，电容比较低。
规格参数
通用 | |
探头类型 | 硅漂移探头（SDD） |
探头大小 | 25mm2 |
硅晶体厚度 | 500um |
准直器 | 内部准直器（ML） |
5.9keV处55Fe能量分辨率 | 峰化时间11.2us时，分辨率为125-135eV |
峰背比 | 20000:1（5.9keV与1keV计数比） |
背景计数 | <3 x 10-3/s, 2 keV 到 150 keV |
探头窗口 | Be:0.5mil(12.5um)或0.3mil(8um) |
准直器 | 内部多层准直器 |
电荷灵敏前置放大器 | Amptek定制复位型前置放大器 |
增益稳定性 | <20ppm/℃ |
外壳尺寸 XR-100SDD X123SDD |
3.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm) 3.94 x 2.67 x 1.0 in (10.0 x 6.78 x 2.54 cm) |
重量 XR-100SDD X-123SDD |
4.4盎司（125g） 6.3盎司（180g） |
总功率 XR-100SDD X-123SDD |
<1W 2.5w(典型) |
质保期 | 1年 |
使用寿命 | 取决于实际使用情况，一般5-10年 |
仓储和物流 | *存放：干燥环境下10年以上 仓储和物流：-20℃到+50℃，10%到90%湿度，无凝结 |
工作条件 | 0℃到+50℃ |
OEM | 兼容所有Amptek OEM配置 |
XR-100SDD输入 | |
前放电源 | ±8V到9V@15mA，峰值噪声不超过50mV。 |
探头电源 XR-100SDD X123SDD | -95到-150V@25uA，非常稳定， 变化<0.1% -95到-1500V（典型-120V） |
制冷电源 电流 电压 |
大350mA 大3.5V，峰值噪声<100mV |
注： XR-100SDD包含它自身的温度控制器 | |
