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PHI nanoTOF II 飞行时间质谱仪
- 型号
- PHI nanoTOF II
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束蕴仪器（上海）有限公司自成立以来，凭借与德国布鲁克（BRUKER）、衍射数据中心(ICDD)、德国Freiberg等实验室分析仪器品牌的战略合作，迅速成为业界仪器供应商。
我们拥有一支积极乐观，正直诚信的年轻团队，我们热忱的信仰科学，相信科学技术能为我们的客户带来高品质的生活，为社会的进步起到积极的促进作用。
束蕴仪器为各类客户提供优质的实验室和工业检测仪器及过程控制设备，专业的应用支持及完善的售后服务，在中国大陆的诸多领域拥有大量用户，如高校、科研院所、航空航天，政府组织、检验机构、及工业企业。产品覆盖了医药、生物、材料、考古、电子、食品等各个行业。
公司的宗旨：为客户量身打造合适的综合解决方案、技术支持和现场服务，优质的客户培训，快速及时的售后服务。
束蕴仪器，让世界更清晰！
主营仪器设备：
--高分辨X射线显微CT、多量程X射线纳米CT、X射线衍射仪、X射线荧光光谱仪、电子顺磁共振波谱仪 （ESR/EPR）、台式核磁共振波谱仪 TD-NMR、光学轮廓仪等 -- 德国布鲁克Bruker 授权代理商
--PDF衍射数据库、JADE软件--衍射数据中心（ICDD)授权代理商
--晶圆片寿命检测仪、在线晶圆片/晶锭点扫或面扫检测、晶圆片在线面扫检测仪、台式PID潜在诱导退化测试仪、释光测定仪等--德国Freiberg Instruments授权代理商
--BPCL化学发光仪--微光科技华东区总代理
单位名称：束蕴仪器（上海）有限公司
详细地址：上海市松江区千帆路288弄G60科创云廊3号楼602室
详细信息
►产品介绍
TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析技术，可检测表面分子成分和分布，元素及其同位素。所有元素和同位素，包括氢都可以用飞行时间二次离子质谱分析。由初级脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子，经飞行时间分析器分析二次离子的荷质比，从而得知样品表面信息。
PHI nanoTOF IITM飞行时间质谱仪是第五代SIMS仪器，该仪器具有*的飞行时间（TOF）分析仪，它拥有市场上TOF-SIMS仪器中大的角度和能量接收范围，它使用了具有优良离子传输能力的三级聚焦半球形静电分析器，实现了高空间分辨率和质量分辨率。PHI nanoTOF IITM还具有很高的成像能力，可以表征形貌复杂的样品而没有阴影效应。
►飞行时间质谱仪-特点：
1、立体收集角度大和深景深
2、同时实现高空间及高能量分辨模式
3、视野范围小可至5微米
4、低背景和亚稳抑制
5、多种离子枪选配实现高精度深度剖析
6、FIB-TOF三维深度分布成像
7、串联质谱MS/MS （有机高分子材料分析*附件）
8、SmartSoftTM-TOF配合WinCadence软件易于操作
9、多样化的样品托
►nanoTOF II仪器规格：
Bi 作为一次离子源时：
1、低质量数质量分辨率（m/Δm）：硅（28Si+和28SiH+）在12000以上
2、高质量数质量分辨率（m/Δm）：m/z > 200，在 16,000以上
3、有机材料的质量分辨率（m/Δm）：PET（104 amu）在12000以上
4、小离子束直径：70纳米（高空间分辨率模式）、0.5μm（高质量分辨率模式）
►nanoTOF II选配
串联质谱MS/MS、氩气团簇离子枪、C60离子枪、铯离子枪、氩／氧离子溅射枪、样品冷却/加热系统、样品高温加热系统、真空转移装置、氧喷射系统、Zalar高速旋转系统、聚焦离子束FIB（Focused Ion Beam）、前处理室、各种样品托、离线数据处理系统、Static SIMS Library等。
