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X-RAY XDL210荧光测厚仪
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重点销售区域：
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详细信息
X-RAY XDL210荧光测厚仪
X-RAY XDL210荧光测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
典型的应用领域有：
• 测量大规模生产的电镀部件
• 测量超薄镀层，例如：装饰铬
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 测量印刷线路板
• 分析电镀溶液
通用规格
设计用途
能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF)， 用于测定超薄镀层和溶液分析。
元素范围
从元素氯(17) 到 铀(92)配有可选的WinFTM®BASIC软件时，多可同时测定 24 种元素
设计理念
台式仪器，测量门向上开启
测量方向
由上往下
X 射线源
X 射线管
带铍窗口的钨管
高压三档： 30 kV，40 kV，50 kV
孔径（准直器）
Ø 0.3 mm 可选：Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；长方形 0.3 mm x 0.05 mm
测量点尺寸
取决于测量距离及使用的准直器大小，
实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致
小的测量点大小约 Ø 0.2mm
X 射线探测
X 射线接收器
测量距离
比例接收器
0 ~ 80 mm，使用保护的 DCM 测量距离补偿法
样品定位
视频系统
高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置
手动聚焦，对被测位置进行监控
十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）
可调节亮度的LED照明，激光光点用于定位样品
放大倍数
40x – 160x
电气参数
电源要求
220 V ，50 Hz
功率
大 120 W （不包括计算机）
保护等级
IP40
尺寸规格
外部尺寸
宽×深×高[mm]：570×760×650
内部测量室尺寸
宽×深×高[mm]：460×495x（参考“样品大高度”部分的说明）
重量
94 kg
