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OVS-Micro 透过率测试仪

型号
OVS-Micro
参数
产地类别:国产 应用领域:化工,电子,航天,汽车,综合
深圳东仪精工设备有限公司

顶级会员4年 

生产厂家

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深圳东仪精工设备有限公司是-家专 注于品质管控及实验率解决方案的供应商,专业代理国内外精密检测仪器、试验设备及耗材。

公司始终坚持以人为本,追求优良的技术。拥有强大技术研发队伍,具有丰富的经验、过硬的技术和创新的思路。本着“专业水平、优良品质、星级服务”的经营理念,努力为客户提升竞争力,以高效的服务回报客户。在实验室解决方案和仪器设备提供领域,已取得新老顾客的极大信任和支持,并拥有行业稳固的位置。我司一直以科学、公正、准确作为品质精神,为广大光电玻璃,电子电器、塑胶五金等行业客户提供专业的实验室解决方案和设备支持。



详细信息

透过率测试仪优点:

仪器精密小巧,携带方便。

测试速度极快,一秒出结果,实现产品全检。

极小样品的透过率检测。

优异的波长重复性达0.1纳米。

高精度的光度测定。

小化杂散光。

透过率测试仪软件特点:

智能化软件操作:可自定义测量方式和角度,实时显示测量样品关注波长位置的透/反射率数据,自动调整显示坐标范围,高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。

谱图管理:可同时记录多达20个样品谱图,批量保存测量结果,记录谱图测试积分时间,能对谱图进行更名、定义颜色、选择是否显示、加粗等操作,很大程度地方便了谱图的管理和分析。

自定义测量方案:用户可以自行定义测量的方案,同时设置判定标准,使检测更快速,结果更准确。

谱图数据处理功能:备有丰富的光学元件数据库,可根据数据库已存标准数据对比分析结果,用户可自行对数据库进行添加、修改和删除,还可将测量数据导入Excel有利于进一步对谱图进行分析和研究。

CIE颜色测量功能:可以计算样品各种CIE颜色参数, x,y,L,a,b,饱和度,主波长等。

数据报告打印功能:可快速批量打印样品测量数据及谱图,自定义测量报告出具单位名称。

技术参数:

型号

OVS-Micro(I型)

OVS-Micro(II型)

测量系统

单光束

单光束

探测器

Sony线形CCD 阵列

Hamamatsu背照式2D-CCD

检出限

0.1%

0.01%

相对检测误cha

﹤0.6%(410-900nm)

﹤0.4%(410-100nm)

检测范围

380-1000nm

360-1100nm

波长重复率

1nm

1nm

信噪比(全信号)

250:1

450:1

样品测试平台

X,Y轴可调

光源

卤素钨灯

孔径大小

0.1mm/0.3mm/0.5mm/0.8mm/1.0mm可选

样品大小

≥ 0.5mm

测量时间

﹤1s

对焦方式

数字相机视频对焦

物镜

5X

电源供应器

5V/6W,可调节亮度,灯泡寿命5000小时

操作系统/接口

Windows XP, Windows Vista/ USB2.0

体积/重量

30cm*29cm*35cm/8.5kg


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产品参数

产地类别 国产
应用领域 化工,电子,航天,汽车,综合
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