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OVS-Micro 透过率测试仪
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生产厂家深圳东仪精工设备有限公司是-家专 注于品质管控及实验率解决方案的供应商,专业代理国内外精密检测仪器、试验设备及耗材。
公司始终坚持以人为本,追求优良的技术。拥有强大技术研发队伍,具有丰富的经验、过硬的技术和创新的思路。本着“专业水平、优良品质、星级服务”的经营理念,努力为客户提升竞争力,以高效的服务回报客户。在实验室解决方案和仪器设备提供领域,已取得新老顾客的极大信任和支持,并拥有行业稳固的位置。我司一直以科学、公正、准确作为品质精神,为广大光电玻璃,电子电器、塑胶五金等行业客户提供专业的实验室解决方案和设备支持。
透过率测试仪优点:
仪器精密小巧,携带方便。
测试速度极快,一秒出结果,实现产品全检。
极小样品的透过率检测。
优异的波长重复性达0.1纳米。
高精度的光度测定。
小化杂散光。
透过率测试仪软件特点:
智能化软件操作:可自定义测量方式和角度,实时显示测量样品关注波长位置的透/反射率数据,自动调整显示坐标范围,高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。
谱图管理:可同时记录多达20个样品谱图,批量保存测量结果,记录谱图测试积分时间,能对谱图进行更名、定义颜色、选择是否显示、加粗等操作,很大程度地方便了谱图的管理和分析。
自定义测量方案:用户可以自行定义测量的方案,同时设置判定标准,使检测更快速,结果更准确。
谱图数据处理功能:备有丰富的光学元件数据库,可根据数据库已存标准数据对比分析结果,用户可自行对数据库进行添加、修改和删除,还可将测量数据导入Excel有利于进一步对谱图进行分析和研究。
CIE颜色测量功能:可以计算样品各种CIE颜色参数, x,y,L,a,b,饱和度,主波长等。
数据报告打印功能:可快速批量打印样品测量数据及谱图,自定义测量报告出具单位名称。
技术参数:
型号 | OVS-Micro(I型) | OVS-Micro(II型) |
测量系统 | 单光束 | 单光束 |
探测器 | Sony线形CCD 阵列 | Hamamatsu背照式2D-CCD |
检出限 | 0.1% | 0.01% |
相对检测误cha | ﹤0.6%(410-900nm) | ﹤0.4%(410-100nm) |
检测范围 | 380-1000nm | 360-1100nm |
波长重复率 | 1nm | 1nm |
信噪比(全信号) | 250:1 | 450:1 |
样品测试平台 | X,Y轴可调 | |
光源 | 卤素钨灯 | |
孔径大小 | 0.1mm/0.3mm/0.5mm/0.8mm/1.0mm可选 | |
样品大小 | ≥ 0.5mm | |
测量时间 | ﹤1s | |
对焦方式 | 数字相机视频对焦 | |
物镜 | 5X | |
电源供应器 | 5V/6W,可调节亮度,灯泡寿命5000小时 | |
操作系统/接口 | Windows XP, Windows Vista/ USB2.0 | |
体积/重量 | 30cm*29cm*35cm/8.5kg |