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LDJD-C 绝缘介电常数测试仪
- 型号
- LDJD-C
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详细信息
绝缘介电常数测试仪
绝缘介电常数仪
一、产品介绍
绝缘介电常数测试仪用于测试电气绝缘材料的介电常数和介质损耗（tanδ）。介电常数又称电容率或相对电容率，表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据，常用ε表示。它是指在同一电容器中用同一物质为电介质和真空时的电容的比值，表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力。
绝缘介电常数仪由S916测试装置（夹具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入QBG-3E/QBG-3F的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，介电常数及介质损耗测试系统的主机则是一台阻抗测量设备（高频Q表）。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用QBG-3E/3F或AS2853A数字Q表具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。
二、适用标准
1 GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
3 ASTM-D150-介电常数测试方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法
三、主要测试材料
介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:
1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等
LDJD-B 型 介电常数及介质损耗测试仪
