$item.Name

首页>物理特性分析仪器>无损检测>探伤机/探伤仪

Omniscan X3 相控阵仪

型号
参数
产地类别:国产 价格区间:面议 应用领域:化工
增宜检测技术(上海)有限公司

中级会员5年 

代理商

该企业相似产品

35RDC超声复合材料探伤仪

在线询价

OmniScan MX ECA/ECT粘接检测

在线询价

BondMaster 600粘接检测

在线询价

便携式电涡流裂纹探伤仪

在线询价

NORTEC 600便携式电涡流裂纹探伤仪

在线询价

EPOCH 1000系列 便携式超声探伤仪

在线询价

OmniScan MX2 便携式超声探伤仪

在线询价

Ominiscan SX 便携式超声探伤仪

在线询价
奥林巴斯超声波相控阵OMNISCAN MX2,英国三维Third Dimension GapGun Pro激光间隙测量仪,美国万睿视Varex射线数字平板探测器,奥林巴斯超声波探伤仪,奥林巴斯涡流探伤仪,内窥镜,元素分析仪,美国磁粉渗透

增宜检测技术(上海)有限公司是一家专注于无损检测设备,理化分析计量仪器,实验室科研器材销售及服务的一站式集成供应商。公司代理许多上享誉*的先进产品。

我们提供的工业产品包括超声波检测仪、涡流仪、激光间隙测量仪、X射线机、平板探测器、磁粉探伤机、着色渗透剂、声发射检测仪器、泄漏仪、内窥镜、显微镜、硬度计、合金光谱仪、金相分析仪、红外热像仪及其它实验室试验检测设备。

我们的产品广泛应用于造船、汽车、铁路、航空、石化、冶金、风电、核工业、军工、特检和高校科研等多个行业领域,并赢得了广大用户的良好口碑。

公司秉承“至信卓业,客户至上”的经营宗旨,崇尚“专业,高效,共赢”的服务理念,为广大客户提供优质的产品,优质的服务。我们期待成为您长期且可信赖的合作伙伴。

主要代理如下公司产品:

奥林巴斯测厚仪/探伤仪/显微镜/内窥镜/光谱仪

 

Third Dimension英国三维激光间隙测量仪

 

ZETEC探伤仪

 

GE美国通用电气测厚仪/探伤仪/显微镜/内窥镜/射线机

 

万睿视平板探测器/管头

 

Eddyfi & M2M探伤仪

 

美国磁通磁粉渗透

Eddyfi & M2M探伤仪

 

详细信息

提供全聚焦方式(TFM)功能的Omniscan X3 相控阵仪

信心满满,昭然可见
Omniscan X3 相控阵仪是一款功能齐备的相控阵工具箱。这款仪器所提供的性能强大的工具,如:全聚焦方式(TFM)图像和高级成像功能,可使用户更加充满信心地完成检测。
*创新的全聚焦方式(TFM)
更好的缺陷成像性能,可以更清晰地显示微小的缺陷
可为早期的高温氢致(HTHA)缺陷成像,
以在关键的早期探测到这种缺陷
机载声学影响图(AIM)的反射率模拟器有助于
以图像方式显示全聚焦方式(TFM)的灵敏度,还可以根据实际情况进行调节
屏幕上最多可显示4种模式的全聚焦方式(TFM)图像,有助于缺陷的解读和定量
改进的相控阵技术
最大脉冲重复频率是OmniScan MX2探伤仪的3倍
单独的衍射时差(TOFD)菜单,加快了工作流程
改进的快速相控阵校准,使用户享有更轻松的操作体验
800%的高波幅范围,减少了重新扫查的需要
机载双晶线阵和双晶矩阵探头的支持性能,加速了创建设置的过程
迅速地投入到检测工作中
机载扫查计划、改进的快速校准和简化的用户界面,有助于省去一些不必要的步骤,从而可使用户在很短的时间内完成检测的设置工作。
性能可靠,令人信赖
符合IP65评级标准,防雨防尘
机载GPS,可提供采集数据的位置
可通过无线方式连接到奥林巴斯科学云系统,以下载新的软件
得益于25 GB的文件容量,仪器可以无需停歇,持续扫查
检测团队中的主力成员
OmniScan X3探伤仪所提供的功能有助于用户高效地完成检测工作。这些功能可以在以下应用中大显身手:焊缝检测、管线和管道的检测、耐腐蚀合金的检测、腐蚀成像、高温氢致缺陷(HTHA)的检测、初期裂纹的探测、复合材料的检测和缺陷成像。

与现有的探头和扫查器相兼容
32:128PR型号,提供64晶片的全聚焦方式(TFM)功能
还提供16:64PR和16:128PR型号
最多8个声束组,1024个聚焦法则
与OmniScan MX2/SX仪器的文件相兼容,方便了用户转换到新仪器的操作
64 GB的内置存储容量,还可以借助外置USB驱动盘扩展存储容量
新一代OmniScan带给您更美好的体验
OmniScan X3仪器的软件性能强大,其简洁、现代的菜单结构减少了按键的次数,改进了从开始设置到最后制作报告的整个检测过程,因此无论新老用户都会得心应手地使用这款仪器。
屏幕上最多可显示4种模式的全聚焦方式(TFM)图像,有助于缺陷的解读和定量
在同一个检测中使用不同的全聚焦方式(TFM)模式(声波组),使检测人员更有希望探测到方向异常的缺陷指示。OmniScan X3探伤仪可以最多同时显示4种模式的全聚焦方式(TFM)图像,从而使用户看到从不同角度生成的图像。来自每种模式的响应和特征,如:端部衍射、圆角凹陷和缺陷剖面,可被综合在一起进行分析,从而可以确认缺陷的类型,并提高缺陷定量的性能。
提前确认覆盖区域
声学影响图(AIM)工具可以基于用户的全聚焦方式(TFM)模式、探头、设置和模拟反射体,即刻提供灵敏度的可视化模型。
声学影响图(AIM)工具消除了扫查计划创建过程中的猜测因素,因为屏幕上会显示某个声波组(TFM模式)的效果图,使用户看到灵敏度消失的位置,并对扫查计划进行相应的调整。
迅速地投入到检测工作中
机载扫查计划工具有助于用户在开始检测之前观察到检测图像。
在一个简单的工作流程中创建包含全聚焦方式(TFM)区域在内的整个扫查计划
同时配置多个探头和声波组
改进的校准功能和设置验证工具
看似熟悉、实有提升的OmniScan操作体验
OmniScan X3探伤仪虽然保留了OmniScan仪器熟为人知的界面,但却减少了设置和分析所需的步骤。因此拥有OmniScan X2的用户可以快速方便地过渡到OmniScan X3的使用,而新的用户则可以借助OmniScan X3轻松地学习检测知识。
利用PC机的强大功能
OmniPC软件为用户提供一套高级工具,如:并排显示视图的功能,这种视图可使用户在屏幕上比较两个文件,从而在分析数据时更加充分地利用PC机的性能。
将数据方便地导出到USB存储盘
观察焊缝左右两侧的图像
在同一个屏幕上将当前和以前捕获的检测数据放在一起进行比较



相关技术文章

同类产品推荐

相关分类导航

产品参数

产地类别 国产
价格区间 面议
应用领域 化工
企业未开通此功能
详询客服 : 0571-87858618
提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :