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布鲁克光学轮廓仪ContourX-200
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冠乾科技Grant Technology 有限公司创立于中国上海。 公司为用户提供先进可靠的设备及、
仪器技术，为客户把握工艺过程，得到优质的结果而服务。
Grant是“授予”的意思，希望公司能够成为一个平台，以用户能够得到上更新更快的技术资讯，技术方案为企业目标。
冠乾科技追求品质产品、专业的应用和完善的售后服务，我们是您可以信赖的合作伙伴。
工艺设备：真空镀膜机；离子束刻蚀机，ICP刻蚀机，等
产品线丰富，元素分析:原子吸收,气相色谱，液相色谱，气质联用，紫外分光光度计等； 热分析：材料表面分析：原子力显微镜，光学轮廓仪，摩擦磨损等； 通用分析：扫描电镜，
实验室仪器
原子吸收光谱仪
近红外光谱仪
紫外分光光度计
电化学工作站
红外光谱仪
镀层测厚仪
数字显微镜
影像测量仪
Wafer 粗糙度检测
3D 轮廓仪
超景深显微镜
TTV 测试
扫描探针显微镜
台式扫描电镜
其他仪器：
四探针测试
离子减薄机
详细信息
布鲁克光学轮廓仪ContourX-200融合了高级表征、可定制选项和易用性，可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统，配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。
ContourX-200还配有业界*进的操作和分析软件Vision64。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能，可访问多种预编程滤镜和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析，可用于表面粗糙度，RDL进封装工艺厚度等测试。
布鲁克光学轮廓仪ContourX-200测量与分析功能
·易于使用的界面，可快速准确地获得结果
·自动化功能用于日常测量和分析
·*泛的滤镜和分析工具选项，用于粗糙度和关键尺寸测量分析
·满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告
*进计量设备
·基于超过四十年的专有WLI创新，ContourX-200光学轮廓仪展现出定量计量所需的低噪声、快速、精度的准确结果。
·通过使用多个镜头和集成的特征识别功能，设备可以在各种视野内以亚纳米垂直分辨率跟踪特征，可用于各种不同行业中的质量控制和过程监控应用。
·ContourX-200对于反射率从0.05％到100％的各种表面都非常易于测量。
高性能表面计量
·放大倍率无关的Z轴分辨率
·大尺寸的标准视场
·稳定集成防震设计
