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SG-A 光焱科技图像传感器测试仪
- 型号
- SG-A
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光焱科技股份有限公司介绍
Enlitech光焱科技创建于2009年，专精量子效率(Quantum Efficiency/ SR/ IPCE)测量，从事科学仪器的研发、客制化生产并提供客户一站式解决方案及服务。
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R&D 创新研发、技术整合、客户端解决方案
在日新月异的太阳能光伏/半导体/材料科学/化学领域中，为客户预先提供“下一步”解决方案，帮助客户实现在科学研究、技术和产业领域的专业和创新突破。我们拥有光学技术、机构设计、电子与电控技术整合、软体与资料库设计开发，根据产业动态、丰富业务经验，为客户提供产品与专案企划、咨询需求到系统运营的整合性服务。成功协助客户在半导体材料、太阳能电池、钙钛矿太阳能电池(Perovskite Solar Cell)、新型材料研究及影像传感器(CMOS Sensor)、相机(含手机相机、工业相机及科学及相机)等领域的研发上取得许多重大突破并获得*成果。
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钙钛矿太阳能电池(Perovskite Solar Cell)应用服务
扩展钙钛矿太阳能电池(Perovskite Solar Cell, PSC)应用领域、提高转换效率，是近年前沿研究的主要课题。近十年，钙钛矿太阳能电池光电转换效率的成长纪录不断刷新世界纪录，目前已达到23.3%，成为太阳能电池领域的新秀！由于钙钛矿太阳电池具有高度不稳定性、衰减速率快等特性，成为研究人员面临的挑战。我们针对钙钛矿太阳能电池的特性，提供涵盖设计、研发、软体、测样、分析管理等测量仪器与整合方案，让客户能有效、准确地测出钙钛矿太阳能电池的转换效率，为客户研究创新带来优势。
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多元产业应用服务
光焱科技将光电检测技术，延伸至半导体、材料科学、LED发光材料、航太应用及生医领域，提供专案研发和实验室仪器配套应用的制造、整合、测试和维护管理供应链服务。服务亦涵盖标定校正设备的客制研发，为科学研究、检测认证、新产品开发、制造生产提供完整可靠的一站式解决方案。
技术与维护服务
光焱科技自2012年起陆续在大陆、日本、美国、中东及印度建立销售通路及售后服务据点，我们致力于提供给客户完整的检测分析工具，即时提供合适的解决方案，协力科学研究、助力产业升级创新。我们的标准化产品及专案能依据客户需求进行调整和扩展，服务分为四大类别：
*专案解决方案：依据客户需求进行新产品研发／产品升级／系统整合等服务。
*One-stop-shop 一站式统合服务：涵盖多元的厂牌合作服务。
*维护管理服务：提供维修及产品健检管理服务。
*快速支援服务：涵盖售前售后客服支援、技术支援、科研支援服务。
详细信息
产品介绍
SG-A 可提供最完整的CMOS图像传感器参数量测分析，例如全光谱量子效率（QE）、整体系统增益（K）、时间暗噪声、信噪比、绝对灵敏度阈值、饱和容量、动态范围、暗讯号非均匀性 （DSNU）、光响应非均匀性 （PRNU）、线性误差和主光线角度 （CRA）。
待测元件可以是多种类型的 CMOS 影像感测器模块。 检测程序符合EMVA 1288标准。
因此，SG-A CMOS影像传感器测试仪可用于进行晶圆级光学检查、工艺参数控制、微透镜设计、微透镜验证。 SG-A CMOS 影像传感器测试仪的高准直光束 （< 1°） 可以克服传统光学系统（如积分球系统）无法解决的新制造工艺的检测难题。
这些制成包括小像素（< 1微米）、BSI和3D堆叠、微透镜、新的拜耳阵列设计等。
特色
● 无损光学检测
● 高准直光束角度;<0.05°、 <0.1°、 <0.5°、 <1°、 <3°（不同型号）。
● 高均匀光斑：≥ 99%。
● 光源不稳定度≤1%。
● 高动态范围测试能力：80dB~140dB（不同型号）。
● 可测试 CMOS 图像传感器参数：量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流/噪声、讯噪比、饱和容量、线性误差 （LE）、暗电流非均匀性 （DCNU）、光响应非均匀性 （PRNU）、主光线角度 （CRA）。
● 全光谱波长范围：300nm-1100nm 或 350nm~1000nm（依型号而定）。
● 波长可扩展至1700nm或更长。
● 待测元件封装：CIS 模组、PCB 板级、CIS 相机，含/不含微透镜。
● SG-A 与待测元件之间可透过「直接通讯」或「握手通讯」进行数据交换。
● 客制化测试夹具和平台（手动或自动，最多 6 轴）。
● 功能强大的分析软件ARGUS®。
● 应用：指纹辨识（CIS+镜头、CIS+准直器、TFT阵列感测器）、CIS微透镜设计、晶圆级光学检测、CIS DSP芯片算法开发、硅基TFT感测器面板、飞行时间相机感测器、近接感测器（量子效率、灵敏度、线性度、讯噪比等）、d-ToF 感测器、i-ToF 感测器、多光谱感测器、环境光感测器（ALS）、屏幕下指纹识别 （FoD） 感测器。
系统设计
规格
SG-A CMOS 图像传感器测试仪功能强大，因此相关规格和配件非常齐全
以下为主要功能规格：
● 全光谱波长范围：300-1100nm 或 350-1000nm （PTC）
● 波长范围可扩展至 1700nm 或更高。
● 单一波长光源：470nm、530nm、630nm、940nm （±5nm） 或定制
● 动态范围：80dB、100dB 或 140dB
● 测试夹具：DUT≤ 100mm x 100mm x 30mm（高）[Basic type] 或定制
● 平台：非、手动 3 轴或 6 轴（手动 + 自动）平台（可定制）
应用
光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪可用于：
● 指纹识别：（CIS+镜头、CIS+准直器、TFT-阵列传感器）
● CIS的微透镜设计，晶圆级光学检查
● CIS DSP芯片的算法开发
● Si TFT传感器面板
● 飞行时间相机传感器
● 近距离传感器：（量子效率、灵敏度、线性度、SNR等）
● d-ToF传感器、i-ToF传感器
● 多光谱传感器
● 环境光传感器：（ALS）
● 指纹显示（FoD）传感器
