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EEM View 日立荧光分布成像系统
- 型号
- EEM View
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上海斯迈欧经销代理众多进口品牌仪器（珀金埃尔默、赛默飞、岛津、安捷伦、沃特世、AB、耶拿、日立等），主营产品有气相色谱、液相色谱、原子吸收光谱仪、紫外分光光度计、气质联用仪、液质联用仪；斯迈欧团队成员均来自*仪器公司，具备丰富的仪器行业从业经历。
公司站在用户角度，以企业“节约成本，提高质量，科学管理”为导向，担负着各行业“质量求发展”的使命，更好地为科研单位、企业生产、院校教学、第三方检测等领域而服务。
斯迈欧公司自成立以来，始终秉承“诚信为根，服务为本”的经营理念，以敬业、务实、拼搏的工作热忱，本着“精益求精、全心全力”的服务原则，为我们的客户提供精准、精密、科技、科学的计量检测仪器。
详细信息
一、日立荧光分布成像系统（EEM View）简介
作为荧光分光光度计的配件系统，这是将相机与荧光分光光度计的结合，融合了智能算法的*技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。
新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品，利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱，积分球下方的CMOS相机可获得样品图像，并利用*的AI光谱图像处理算法，可以同时得到反射和荧光成分图像。
二、 日立荧光分布成像系统（EEM View）特点：
1. 可以全面测定样品的光谱数据（反射光、荧光特性）
在不同光源条件下（白光和单色光）拍摄样品图像，（区域：Φ20mm、空间分辨率：0.1 mm左右、波长范围：360-700nm），同时利用*的光谱算法，分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息（荧光光谱、反射光谱）
荧光分布成像系统软件分析（EEM View Analysis）界面(样品：LED电路板)
2. 样品安装简单，适用于各种样品测试
样品只需摆放到积分球上，安装十分简单！
丰富的样品支架
支持精确测量的校正工具
荧光分布成像系统是一种全新的技术，将它配置到荧光分光光度计中，改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状，可以查看样品图像任意区域的光谱信息，十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。
