利特斯光谱仪CCD全谱直读光谱分析仪

SZ-WL15A 快速和可靠金属分析  体积小巧，且具有超高的性价比。

我们的光谱仪旨在完成快速而可靠的样品检测。新一代leetes先进的光谱分析技术，30年光谱仪研发制造经验、技术创新和专业的售后服务，为每一台光谱仪用户提供可靠的材料分析方案。

WL15A 提供快速、稳定和精确的分析以实现样品检测要求。 它是一台功能强大且可靠的光谱仪，光学系统采用CCD检测器，在部分领域可以媲美经典光电倍增管式的光谱仪。

分析的材料类型 全面的分析程序可供选择，适用于所有金属及其合金，

包括：铸铁、铁、钢铝、铜、镁、镍、铅、锡、钴、钛

光学系统 :

全谱平场光学系统，波长可选范围：130-1100nm

检测器 :

(紫外区)采用高性能滨松（HAMAMATSU）背照式CCD检测器

开放式激发台，适用于分析不同几何形状的大样品，采用双气路氩气冲洗电极模式大大节约氩气，热交换设计，无需水冷，易于清理维护。

火花激发系统 :

激发误差 是直读光谱分析中主要误差，对火花激发系统中光源的稳定性要求异常严格。WL15A采用全频数字双脉冲激发光源，可变频（100-1000Hz）激发技术。

具有以下特点：

激发电路中无电阻部件，不发热，提高热稳定性低压火花放电，增加系统可靠性减少维护保养，仅需清洗激发电极

1.分析准确度高，时间快

2.体积小、重量轻

3.高度集成化、高可靠性

4.数据分析稳定、快速

5.全谱检测，通道不受限

6.操作简单

7.分析模式

核心原理图：

CCD的优势 ：

windows系统下全中文操作界面，有多种语言模式一键激发

即可获取数据内置自我诊断系统

自动处理结果，10-30S 完成样品分析

预装金属牌号，能快速鉴定。可自由选择分析模式、

配置分析曲线，也可根据应用需求优化参数。

1. 连接激发光源

2. 狭缝

3. 滤镜

4. 准直镜

5. 光栅

6. 聚焦镜

7. 带滤光片的检测器

8. 背照式CCD检测器

应用领域

冶金、铸造、机械加工、炉前化验、科研、商检、汽车、石化、造船、电力、航空航天、核电、兵器  

检测范围

铁基、铜基、铝基、镍基、钴基、镁基、钛基、锌基、铅基、锡基、银基 等

利特斯光谱仪CCD全谱直读光谱分析仪

SZ-WL15A 直读光谱仪技术方案仪器技术参数表格

SZ-WL15A 标配供货范围

CCD 原理及发展应用

CCD 是指电荷耦合器件，是一种用电荷量表示信号大小，用耦合方式传输信号的探测元件，具有自扫描、感受波谱范围宽、畸变小、体积小、重量轻、系统噪声低、功耗小、寿命长、可靠性高等—系列优点，并可做成集成度非常高的组合件。

电荷耦合器件(CCD)是20世纪70年代初发展起来的一种新型半导体器件。

CCD是于1969年由美国贝尔实验室（Bell Labs）的维拉·波义耳(Willard S. Boyle）和乔治·史密斯（GeorgeE. Smith）所发明的。

当时贝尔实验室正在发展影像电话和半导体气泡式内存。将这两种新技术结合起来后，波义耳和史密斯得出一种装置，他们命名为“电荷‘气泡’元件”（Charge "Bubble" Devices）。

这种装置的特性就是它能沿着一片半导体的表面传递电荷，便尝试用来做为记忆装置，当时只能从暂存器用“注入”电荷的方式输入记忆。但随即发现光电效应能使此种元件表面产生电荷，而组成数位影像。　

到了70年代，贝尔实验室的研究员已经能用简单的线性装置捕捉影像，CCD就此诞生。有几家公司接续此一发明，着手进行进一步的研究，包括仙童半导体（Fairchild Semiconductor）、美国无线电公司（RCA）和德州仪器（Texas Instruments）。

其中快捷半导体的产品上市，于1974年发表500单元的线性装置和100x100像素的平面装置。

CCD图像传感器可直接将光学信号转换为模拟电流信号，电流信号经过放大和模数转换，实现图像的获取、存储、传输、处理和复现。

CCD 优势及特点：

1.体积小重量轻；

2.功耗小，工作电压低，抗冲击与震动，性能稳定，寿命长；

3.灵敏度高，噪声低，动态范围大；

4.响应速度快，有自扫描功能，图像畸变小，无残像；

5.应用超大规模集成电路工艺技术生产，像素集成度高，尺寸精确，商品化生产成本低。

因此，许多采用光学方法测量外径的仪器，把CCD器件作为光电接收器。