GGB探针ST 系列硬针是 0.020 inch (0.51mm) 直径钨材质针杆经过精密电化学加工成为不同的针尖直径，长度为 1.5inch(38.1mm)的探针。这种探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。ST 系列硬针可以用于与刮擦或者刺穿芯片表面钝化层。该探针可以选择表面镀镍，如果选择 镀镍则型号后面增加“NP”。

一般配合探针台一起使用，用于测试相关半导体行业样品的电学测试。比如IV/CV等。

根据其它使用场景，比如二维材料转移系统，机械探针臂等都有运用。

详情可以随时联系我们。

主要参数：

针杆长度38mm，直径0.5mm；可测电流范围1fA~1A。

针对特别薄的样品，我们常常采用铍铜材质，相对于钨，更加柔软，不容易扎破样品。但是铍铜的熔点低，不适合在高温下使用。客户可以根据不同的使用情况，选择不同的样品，我们也会根据客户的实际情况给出合理化的建议。

我司常年备有大量库存，有现货，可以满足客户一般的测试需求。

GGB探针型号规格：

优测国芯电子科技（深圳）有限公司是一家致力于提供半导体和自动化设备综合解决方案的自主创新型技术企业。我们集研发、生产、销售和服务于一体，不仅拥有*的生产设备、*的加工工艺及品质检测体系，也拥有涉及材料、物理、化学、微电子、机械等专业的技术团队。现在主营的产品有：4寸、6寸、8寸、12寸手动探针台、高压大功率探针台、真空高低温探针台，半自动探针台，全自动探针台等，可以完成I-V/C-V测试，脉冲I-V测试，RF/mmW测试，高压、大电流测试，MEMS、光电器件等测试。专业的设计人员也可以按客户的要求量身定制，如搭配光电流扫描成像或拉曼-瞬态荧光寿命成像系统、太阳能发生器、多普勒测试仪、积分球等，在常规探针台功能上进行延伸拓展来满足不同客户的测试需求。