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XTU-50B X射线荧光谱仪镀层厚度测试仪
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详细信息
XTU-50B X射线荧光谱仪镀层厚度测试仪是一款设计结构紧凑，模块精密化程度*的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。
应用领域
线路板、引线框架及电子元器件接插件检测
镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析
手表、精密仪表制造行业
钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测
卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
电镀液的金属阳离子检测
XTU-50B X射线荧光谱仪镀层厚度测试仪性能优势：
下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm.
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
高效率的接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
精密微型滑轨：快速定位样品。
EFP*算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
项 目 参 数
测量元素范围 Cl（17）-U（92）
涂镀层分析范围 各种元素及有机物
分析软件 EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析
软件操作 人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误
X射线装置 W靶微聚焦加强型射线管
准直器 Ø 0.05 mm ；Ø 0.1 mm；Ø 0.2 mm；Ø 0.5 mm；准直器任意选择一种
近测距光斑扩散度 10%
测量距离 具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察 1/2.5彩色CCD，变焦功能
对焦方式 高敏感镜头，手动对焦
放大倍数 光学38-46X，数字放大40-200倍
样品台尺寸 500mm*360mm
移动方式 高精密XY手动滑轨
可移动范围 50mm*50mm
随机标准片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件 联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱
| 项 目 | 参 数 |
| 测量元素范围 | Cl（17）-U（92） |
| 涂镀层分析范围 | 各种元素及有机物 |
| 分析软件 | EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析 |
| 软件操作 | 人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误 |
| X射线装置 | W靶微聚焦加强型射线管 |
| 准直器 | Ø 0.05 mm ；Ø 0.1 mm；Ø 0.2 mm；Ø 0.5 mm；准直器任意选择一种 |
| 近测距光斑扩散度 | 10% |
| 测量距离 | 具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm) |
| 样品观察 | 1/2.5彩色CCD，变焦功能 |
| 对焦方式 | 高敏感镜头，手动对焦 |
| 放大倍数 | 光学38-46X，数字放大40-200倍 |
| 样品台尺寸 | 500mm*360mm |
| 移动方式 | 高精密XY手动滑轨 |
| 可移动范围 | 50mm*50mm |
| 随机标准片 | 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um |
| 其它附件 | 联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 |
XTU-50B X射线荧光谱仪镀层厚度测试仪性能特点：
2、测试组件可升降
3、高精度移动平台
4、小准直器
5、高分辨率探头
6、可视化操作
7、自动定位高度
8、自动寻找光斑
9、鼠标定位测试点
10、良好的射线屏蔽
11、超大样品腔设计
12、测试口安全防护
技术指标：
一次可同时分析zui多24个元素。
分析检出限可达1ppm。
分析含量一般为1ppm到99.9％。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
多次测量重复性可达0.1％。
长期工作稳定性为0.1％。
温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
应用领域：
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业
