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iEDX-150Tx射线荧光光谱镀层厚度测试仪
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我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、气相质谱仪（GC-MS）、液相色谱仪（LC）、液相质谱仪（LC-MS）、能谱仪（EDS）、高频红外碳硫分析仪（CS）、矿浆载流在线采样仪（OSA）等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰（贵金属及镀层检测等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中规定的有害物质：铅Pb、砷Ａs、锑Sb、钡Ｂa、镉Cd、铬Cr、Ｈg、硒Se以及氯等卤族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（铜合金、铝合金、镁合金等）、冶金（钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等）、地质采矿（各种矿石品位检测设备）、塑料（无卤测试等）、石油化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、环境保护、香精香料、纺织品、医药、商品检验、质量检验、人体微量元素和化合物检验等等。销售的仪器设备应用于元素分析，化合物测试，电镀镀层厚度检测等。
详细信息
iEDX-150Tx射线荧光光谱镀层厚度测试仪
我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、气相质谱仪（GC-MS）、液相色谱仪（LC）、液相质谱仪（LC-MS）、能谱仪（EDS）、高频红外碳硫分析仪（CS）、矿浆载流在线采样仪（OSA）等。
应用领域
分析各种电镀镀层厚度
技术指标
多镀层分析，1～5层；
测试精度：0.001μm；
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)；
测量时间：10~30秒；
SDD探测器，能量分辨率为125±5eV；
探测器Be窗0.5mil（12.7μm）；
微焦X射线管50kV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）；
6个准直器及多个滤光片自动切换；
高清CCD摄像头（200万像素），准确监控位置；
多变量非线性去卷积曲线拟合；
高性能FP/MLSQ分析；
软件支持无标样分析；
宽大分析平台和样品腔；
集成了镀层分析界面和合金成份分析界面；
采用多种光谱拟合分析处理技术；
镀层测厚分析可达到0.001μm。
单层厚度范围：
金镀层0－8um,
铬镀层0-15um,
其余一般为0-30um以内，
可最小测量达0.001um。
2.3、多层厚度范围
Au/Ni/Cu:Au分析厚度:0-8umNi分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu:Sn分析厚度:0-30umNi分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe:Cr分析厚度0-15umNi分析厚度:0-30um
2.4、镀层层数为1-6层
2.5、镀层精度相对差值一般<5%。
2.6、镀层成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。
单层分析精度，以Ni举例：（相对差值）
Ni层厚度(um)
保证精度
<1.0um
<5%
1.0-5.0um
<3%
5.0-10um
<3%
10-20um
<3%
>20.0um
<3%
分析报告结果
直接打印分析报告；
报告可转换为PDF，EXCEL格式。
iEDX-150Tx射线荧光光谱镀层厚度测试仪
