● ZML310显微镜法粒度粒形仪产品介绍：

ZML-310透皮乳膏粒度晶型分析仪是采用显微镜图像法测量颗粒粒度大小、形状特征、颗粒表面颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。其工作原理是通过专用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色的显微粒度分析仪器。

● 结构原理：

ZML-310型透皮乳膏粒度晶型分析仪是采用显微镜图像法测试粒径大小、颗粒形状及颗粒颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。其工作原理是通过专用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色的显微粒度分析仪器。

● 应用领域：

ZML310显微镜法粒度粒形仪广泛适用于API原料药、半固体软膏、液体制剂、药物晶型分析、生物医药、食品等领域的各种颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。

● 技术参数：

1.粒径范围：200nm-3000μm。

2.准确性：＜3%。

3.粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。

4.粒度统计：体积、面积、颗粒。

5.形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。

6.摄像机：1800万像素。

7.软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。

8.可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。

9.配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。