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QE-RX 光焱科技光伏电池效率损失分析仪
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光焱科技股份有限公司介绍
Enlitech光焱科技创建于2009年，专精量子效率(Quantum Efficiency/ SR/ IPCE)测量，从事科学仪器的研发、客制化生产并提供客户一站式解决方案及服务。
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R&D 创新研发、技术整合、客户端解决方案
在日新月异的太阳能光伏/半导体/材料科学/化学领域中，为客户预先提供“下一步”解决方案，帮助客户实现在科学研究、技术和产业领域的专业和创新突破。我们拥有光学技术、机构设计、电子与电控技术整合、软体与资料库设计开发，根据产业动态、丰富业务经验，为客户提供产品与专案企划、咨询需求到系统运营的整合性服务。成功协助客户在半导体材料、太阳能电池、钙钛矿太阳能电池(Perovskite Solar Cell)、新型材料研究及影像传感器(CMOS Sensor)、相机(含手机相机、工业相机及科学及相机)等领域的研发上取得许多重大突破并获得*成果。
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钙钛矿太阳能电池(Perovskite Solar Cell)应用服务
扩展钙钛矿太阳能电池(Perovskite Solar Cell, PSC)应用领域、提高转换效率，是近年前沿研究的主要课题。近十年，钙钛矿太阳能电池光电转换效率的成长纪录不断刷新世界纪录，目前已达到23.3%，成为太阳能电池领域的新秀！由于钙钛矿太阳电池具有高度不稳定性、衰减速率快等特性，成为研究人员面临的挑战。我们针对钙钛矿太阳能电池的特性，提供涵盖设计、研发、软体、测样、分析管理等测量仪器与整合方案，让客户能有效、准确地测出钙钛矿太阳能电池的转换效率，为客户研究创新带来优势。
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多元产业应用服务
光焱科技将光电检测技术，延伸至半导体、材料科学、LED发光材料、航太应用及生医领域，提供专案研发和实验室仪器配套应用的制造、整合、测试和维护管理供应链服务。服务亦涵盖标定校正设备的客制研发，为科学研究、检测认证、新产品开发、制造生产提供完整可靠的一站式解决方案。
技术与维护服务
光焱科技自2012年起陆续在大陆、日本、美国、中东及印度建立销售通路及售后服务据点，我们致力于提供给客户完整的检测分析工具，即时提供合适的解决方案，协力科学研究、助力产业升级创新。我们的标准化产品及专案能依据客户需求进行调整和扩展，服务分为四大类别：
*专案解决方案：依据客户需求进行新产品研发／产品升级／系统整合等服务。
*One-stop-shop 一站式统合服务：涵盖多元的厂牌合作服务。
*维护管理服务：提供维修及产品健检管理服务。
*快速支援服务：涵盖售前售后客服支援、技术支援、科研支援服务。
详细信息
提升精度的实验室利器 _ AM1.5G太阳光模拟器搭光伏太阳能电池效率-损失分析解决方案搭载 SPOT-V 光斑观测器
光斑观测器 为何能助您科研精进？
·清晰观察： 在暗室或光线有限的实验环境中，也能清晰观测光斑，确保样品处于最佳受光区域。
·简便易用： 即插即用，无需繁琐设置，适用于各种光谱系统，让您轻松掌握光斑位置。
·多功能应用： 无论是微小样品还是复杂的光谱实验，都能提供可靠的观测支持，帮助您进行精准的实验设计和数据分析。
·提升效率： 光斑观测器能有效避免光斑偏移或样品偏移问题，保障每次测量的准确性，提升实验效率，降低误差。
特色
QE-RX光伏电池效率损失分析仪 的特色如下：
*高度准确且低不确定性
QE-RX 的校准是NIST 可追溯的，这使得 QE-RX 的测试数据的不确定性低于任何其他 EQE 测试系统。同时，QE-RX 是由Enlitech 开发的，Enlitech 拥有 10 年的ISO / IEC 17025 认证的校准实验室。这使得 QE-RX 对 Si 太阳能电池的测试结果高度准确。依靠 QE-RX，它将为您提供可靠的结果。
*结构紧凑但功能多样
QE-RX 将所有光学和机械部件集成在 80cm x 80cm x 60cm 的主体内，其中包括电信号采集锁相放大器。不限于其紧凑的尺寸，QE-RX 仍然提供各种测试数据，包括太阳能电池的 EQE、光谱响应、反射率和 IQE。紧凑而多功能是 QE-RX 的优势。
*功率损耗分析
QE-RX 结合 SQ-JVFL 软件，可以提供最完整的分析功能，包括 Jsc-loss、Voc-loss、FF-loss 和带隙计算。这些参数是生产产量控制和效率建议的关键因素，这使得 QE-RX 成为光伏行业的最佳合作伙伴。
．用于 PESC、PERC、PERL、HJT、背接触、双面和 TOP-Con 硅太阳能电池
．提供 QE（量子效率）、PV-EQE（外部量子效率）、IPCE（入射光子-电子转换效率）、SR（光谱响应）、IQE（内部量子效率）和反射率方面的数据。
．结构紧凑且重复性高超过 99.5%。
．波长范围：300~1200 nm
．Jsc损失分析和报告（使用SQ-JVFLA软件）。
．职业损失分析和报告（使用SQ-JVFLA软件）。
．FF损失分析和报告（使用SQ-JVFLA软件）。
．提供的EQE不确定度评估报告和经ISO/IEC 17025认证的质量控制，可用于期刊论文投稿。
．多样化和定制化的样品测试装置。
系统设计
规格
QE-RX主机功能 | Ø 测量波长范围：300-1200nm （可扩展） Ø 各波长测量重复性：300-390nm 平均不重复性≦ 0.3%，400-1000 nm 平均不重复性 ≦ 0.15%。1000-1200nm波长平均不重复性 ≦ 0.25% Ø 短路电流密度不重复性 ≦ 0.1% Ø 准确性<0.1% Ø 量测10次计算平均不重复性 = 相对标准差/平均值* 100% Ø 测量时间:300-1200nm，扫描间隔10nm，测量不超过3分钟 Ø 测量暗箱：80cm测量遮罩暗室 Ø 适用环境: 温度15~35度，湿度20%~65% Ø 具备短路电流、开路电压、填充因素三大损耗分析 |
软件功能 | Ø 绝对光强校正 Ø 光谱响应测量 Ø 外部量子效率测量（EQE） Ø 带宽能隙分析（Bandgap） Ø 自动、即时短路电流密度Jsc计算 Ø 单波长短路电流自动计算 Ø 独立控制操作整体硬件系统及资料读取 Ø 光谱失配因素计算（MMF） Ø 信号监控功能 Ø 任意AM光谱短路电流密度计算功能 Ø 资料保存格式txt | |
应用范围
QE-RX光伏电池效率损失分析仪 可用于：
*PERC / HJT / TOP-Con 光伏太阳能电池效率-损失分析
*IEC-60904-8 光谱响应测量
*IEC-60904-7 失配系数计算
*IEC-60904-1 MMF 校正
*矽太阳能电池加工质量控制
*矽太阳能电池带隙测定
