APD-QE 光感测器量子效率测量仪
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生产厂家南京芯测软件技术有限公司,专业打造半导体晶圆级测试及芯片检测等系统集成平台。公司致力为客户提供半导体测试设备国产化改造,以及系统集成的一站式平台服务。公司的目标是成为国内晶圆级在片测试,器件测量系统软件、硬件的先进供应商,以满足国内用户需求,开发半导体测试设备和系统集成软件定制化服务。
南京芯测的在专注于在片测试系统设备经销与晶圆在片测试软件的研发。涉及的设备包括:手动探针台、半自动探针台、全自动探针台、硅光探针台、射频探针台、高低温探针台、除此之外涉及经销芯片ESD测试系统、封装及工艺检测设备等。我们服务的领域涵盖半导体晶圆级在片测试、射频微波器件测量,大功率器件测试、微组装封装工艺检测、失效分析、材料测试等应用行业
光感测器量子效率测量仪介绍
随着5G与移动设备的兴起与普及,越来越多新型光传感器被应用于我们的日常生活中,为了能更好的应用在行动装置上,这些先进光传感器的组件感光面积越做越小。但这些应用却对先进光传感器的光感测性能要求却越来越高,在感光面积微缩的过程中,也带来量子效率精准测量的挑战;例如,传统聚光型小光斑在不同波长下,色散差造成焦点位移可到mm等级。难以将所有的光子都聚焦到微米等级的感光面积中。因此,难以准确测得全光谱量子效率曲线。
APD-QE 光感测器量子效率测量仪采用光束空间均匀化技术,利用ASTM标准的”Irradiance Mode”测试方式,与各种先进探针台形成完整的微米级光传感器全光谱量子效率测试解决方案。APD-QE已被应用于多种先进光传感器的测试中,例如在iPhone光达与其多种光传感器、Apple Watch血氧光传感器、TFT影像传感器、有源主动像素传感器(APS)、高灵敏度间接转换X射线传感器等。