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KOSAKA - ET200A 台阶仪

型号
KOSAKA - ET200A
参数
产地类别:进口 价格区间:面议 应用领域:电子,航天,综合
岱美仪器技术服务(上海)有限公司

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台阶仪

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膜厚仪,轮廓仪,EVG键合机,EVG光刻机,HERZ隔震台,Microsense电容式位移传感器

岱美仪器技术服务(上海)有限公司(Dymek Company Ltd ,下面简称岱美)成立于1989年,是一间拥有多年经验的高科技设备分销商,主要为数据存储、半导体、光通讯、高校及研发中心提供各类测量设备、工序设备以及相应的技术支持,并与一些重要的客户建立了长期合作的关系。自1989年创立至今,岱美的产品以及各类服务、解决方案广泛地运用于中国香港,中国大陆(上海、东莞、北京),中国台湾,泰国,菲律宾,马来西亚,越南及新加坡等地区。


岱美在中国大陆地区主要销售或提供技术支持的产品:

晶圆键合机、纳米压印设备、紫外光刻机、涂胶显影机、硅片清洗机、超薄晶圆处理设备、光学三维轮廓仪、硅穿孔TSV量测、非接触式光学三坐标测量仪、薄膜厚度检测仪、主动及被动式防震台系统、应力检测仪、电容式位移传感器、定心仪等。


岱美重要合作伙伴包括有:

Thetametrisis, EVG, FSM, Opto-Alignment, Herz, PLSINTEC, Film Sense, Reditech, Lazin, Delcom, Microsense, Shb, boffotto, RTEC, Kosaka, Nanotronics, MTInc, 4D, Daeil, Microphysics,

n&k Technology, First Nano, Schmitt, LESCO, Otsuka, STI, Kurashiki, Ryokosha, SURAGUS, Westbond...


如有需要,请联系我们,了解我们如何开始与您之间的合作,实现您的企业或者组织机构长期发展的目标。




详细信息

探针测量是通过监测精密探针划过薄膜表面的偏移测量薄膜厚度和粗糙度,常常是不透明薄膜如金属薄膜的其中一种测量方法。


KOSAKA 台阶仪(探针台)具有以下特点:

二维/三维表面粗度解析及台阶测定,可实现高精度、高辨识能力及*的安全性。

用于平板显示器、硅片、硬盘等的微细形状台阶/粗度测定另外也可利用微小测定力来对应软质样品表面测定。

具备载物台旋转功能,便于定位下针位置。


高精度 • 高稳定性 • 功能超群。

FPD 基板 • 硅片 • 硬盘等

微细形状、段差、粗糙度等测量。







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产品参数

产地类别 进口
价格区间 面议
应用领域 电子,航天,综合
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