赛默飞（原FEI）Quattro 进口扫描电镜将成像和分析的全面性能与环境模式(ESEM)相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。
 

　　如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪(FEG)确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选项，可以调节不同衬度信息，包括定向背散射、STEM 和阴极荧光信息。来自多个探测器和探测器分区的图像可以同步采集和显示，使得单次扫描即可获得各种样品信息，从而减低束敏感样品的束曝光并实现真正的动态实验。
 

　　Quattro 的三种真空模式(高真空、低真空和 ESEM™)使得系统极灵活性，可以容纳任何 SEM 可用的广泛的样品类型，包括放气或者是与真空状态不相容的样品。此外，ESEM™可以在现实世界的条件下对样品进行原位研究，例如湿/潮湿、热或反应性的环境。
 

　　Quattro 的分析样品仓可以满足日益增长的样品元素信息及晶体结构分析需求，它同时支持相对的双能谱(EDS)探测器、共面能谱(EDS)/电子背散射衍射(EBSD)和平行束波谱(WDS)探测器。无论什么类型的样品，在高真空下或与 Quattro 支持的实验条件相结合，无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下，均可获得可靠的分析结果。
 

　　由于多用户设施要求大量操作人员都能获得所有相关数据，同时尽可能缩短培训时间，所以易用性是至关重要的。Quattro 的硬件由帮助功能(用户向导)支持，不仅可以指导操作者，还可以直接与显微镜进行交互。并且通过“撤消(Undo)”功能，鼓励新手用户进行实验，而专家用户可以轻松缩短结果获取时间。
 

　　赛默飞（原FEI）Quattro 进口扫描电镜主要优势
 

　　在自然状态下对材料进行原位研究：具有环境真空模式(ESEM)的高分辨率场发射扫描电镜
 

　　很大程度缩短样品制备时间：低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析，样品表面无荷电累积
 

　　在各种操作模式下分析导电和不导电样品， 同步获取二次电子像和背散射电子像
 

　　安装原位冷台、珀尔帖冷台和热台，可在-165°C 到 1400°C 温度范围内进行原位分析
 

　　分析性能，样品仓可同时安装三个 EDS 探测器，其中两个 EDS端口分开 180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD
 

　　针对不导电样品的分析性能：凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的精确 EDS 和 EBSD 分析
 

　　灵活、精确的优中心样品台，105°倾斜角度范围，可观察样品
 

　　软件直观、简便易用，并配置用户向导及 Undo(撤销)功能，操作步骤更少，分析更快速
 

　　全新创新选项，包括可伸缩 RGB 阴极荧光(CL)探测器、1100°C 高真空热台和 AutoScript(基于 Python 的脚本工具 API)