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MicroTime200 STED 超分辨时间分辨共聚焦荧光显微系统
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代理商武汉东隆科技有限公司(以下简称“东隆科技”)创立于1997年,坐落于著名的武汉·中国光谷的核心区。
武汉东隆科技有限公司创立于1997年。产品涵盖科研及工业应用的各个环节,主要涉及光谱影像、激光光束诊断、气体传感、单光子计数、光链路测量、TW/PW激光系统六大光学应用领域。
成立至今,东隆科技秉持“服务创造未来”的宗旨,为客户提供迅捷、高品质的服务,倍受广大客户的信赖。东隆科技在多年技术积累的同时,聚集了一批光学、电学的技术人才,能够针对客户需求提供优质的产品及专业的解决方案。先后同欧美日多家厂商建立了全面深入的合作,并联合成立了开发、应用、服务技术中心。
超分辨时间分辨共聚焦荧光显微系统MicroTime200 STED通常用共焦显微镜为主体,非常适合添加到MicroTime 200中。将STED集成到系统中,一直朝着最高的稳定性和易用性发展。该系统能够无需冗长的准备工作就可以运行STED显微镜,同时仍然可以选择使用MicroTime 200的全部功能。
特点:
基于倒置显微镜的完整共聚焦STED系统
光学分辨率低于50nm
640nm激发,595nm和660nm附加可选
支持门控STED(gSTED)和gSTED-FCS
压电平移台,用于2D,3D寿命成像和精确定位
匹配有高级版易用型数据采集、分析和可视化软件SPT64
AFM/FLIM/STED联用的*升级
支持MicroTime 200可用的所有其他手段,即FLIM、FCS、FCCS、FLCS、FRET等
FLIMbee 振镜扫描附件,具有出色的扫描速度灵活性和优秀的空间精度
可以通过使用FLIMbee振镜在X轴上进行线扫描来实现scanning FCS测量
应用:
MicroTime 200 STED是一款具有单分子灵敏度和超分辨率成像功能的时间分辨共聚焦显微镜。 因此,该仪器可以进行多种应用,包括:
受激发射损耗显微镜(STED)/门控STED(gSTED)
单分子光谱/探测
时间分辨荧光
荧光寿命成像(FLIM)
磷光寿命成像(PLIM)
荧光相关光谱(FCS)
荧光寿命相关光谱(FLCS)
荧光共振能量转移(FRET)
双聚焦荧光相关光谱(2fFCS)
扫描FCS (sFCS)
脉冲交替激发(PIE)
荧光各向异性(偏振)
模式匹配分析
时间分辨光致发光(TRPL)
TRPL 成像
反聚束效应
参数:
光学分辨率 | <50 nm(STED) <300 nm(共聚焦) |
激发系统 | 激光耦合单元,包含皮秒半导体激光器(375 nm – 900 nm),复频率高达80 MHz 支持单通道或多通道驱动 可选:支持紫外266 nm* 可选:支持外接第三方激光器(如钛蓝宝石激光器) STED激发光部分 640 nm(激发光),765 nm(STED激光) 双样品STED采用640 nm和595 nm激发光 双样品STED采用640 nm和660 nm激发光 |
显微镜 | Olympus的 IX 73或 IX 83倒置显微镜 专为共聚焦显微镜设计的右侧端口 预留左口和后口,可做扩展应用(如TIRF) 包含透射照明部件 *的25 mm行程的手动样品固定台 标准样品架(用于20 mm x 20 mm载玻片) 可选落射荧光照明 可选低温恒温器用于低温型实验 可选与原子力显微镜整合 |
物镜规格 | 标准20x和40x空气物镜 可选多种特殊物镜(水/油镜、红外/紫外强化、TIRF、超长工作距离型等) |
扫描台 | 压电平移台: 80 μm x 80 μm规格2D压电扫描台(1nm定位精度) PIFOC 3D立体成像(行程80 μm,定位精度1 nm) 可选样品扫描 可选厘米级大范围扫描台 FLIMbee振镜扫描头: 图像尺寸范围从10 × 10 到2048 × 2048 µm (60x 物镜) 高达2.6 FPS @ 512 × 512<span "="" style="box-sizing: border-box;padding: 0px;color: rgb(0, 0, 0)"> 像素 可选Z轴控制,如z-stacks (基于压电Z轴位移台,最大100μm行程) 像素停留时间0.5 µs到1 s |
主要光学部件 | 最多可支持4通道的共聚焦探测模块 定制二向色镜,增强系统稳定性 所有光学组件容易安装、调整和更换 用于光斑分析的CCD相机和光电二极管 变量分束单元和出口端口,轻松连接外部设备 |
探测器 | 单光子雪崩二极管(SPAD) 混合型光电倍增管(Hybrid-PMT) |
数据采集方式 | 基于时间相关单光子计数(TCSPC)的TTTR测量模式 多达独立6通道同步采集 |
分析软件 | SymPhoTime 64 |