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TRICLOPS 快速扫描VIS-NIR-SWIR-MIR光谱仪
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代理商武汉东隆科技有限公司(以下简称“东隆科技”)创立于1997年,坐落于著名的武汉·中国光谷的核心区。
武汉东隆科技有限公司创立于1997年。产品涵盖科研及工业应用的各个环节,主要涉及光谱影像、激光光束诊断、气体传感、单光子计数、光链路测量、TW/PW激光系统六大光学应用领域。
成立至今,东隆科技秉持“服务创造未来”的宗旨,为客户提供迅捷、高品质的服务,倍受广大客户的信赖。东隆科技在多年技术积累的同时,聚集了一批光学、电学的技术人才,能够针对客户需求提供优质的产品及专业的解决方案。先后同欧美日多家厂商建立了全面深入的合作,并联合成立了开发、应用、服务技术中心。
快速扫描VIS-NIR-SWIR-MIR光谱仪是一款紧凑型、快速扫描的光谱仪。它采用基于时域傅立叶变换检测的技术,可以极其精确地监测光源的发射光谱,并测量吸收、透射或反射光谱。
产品特点:
较宽的光谱覆盖范围
光谱分辨率高
可调且快速的刷新率
高灵敏度和吞吐量
光输入采用自由空间或光纤耦合
用户友好的软件界面
小巧轻便,USB-C接口连接电脑
典型应用:
监测光源发射
吸收/透射/反射测量
材料表征
光学镀膜测量
快速扫描VIS-NIR-SWIR-MIR光谱仪参数:
波长范围 | 400 - 4500 nm |
光谱采集速率 | 0.5 - 3 Hz |
光谱分辨率 | 10 cm-1 |
光输入方法 | 光纤耦合或准直输入* |
光纤耦合输入 | 光纤纤芯直径 ≤ 1mm,NA = 0.33 (f/1.5) |
准直输入 | 10mm直径孔径 |
光电探测器 | Si、InGaAs、2级TE冷却 PbSe |
接口 | USB-C 2.0 |
尺寸 | 180 × 160 × 55mm |
重量 | 1.5 kg |
软件 | Windows 10/11操作系统 提供图形用户界面和应用程序接口 |
*可通过软件进行切换。
彩色塑料薄膜透射光谱示例