HAST 1000 美国Trio-Tech 半导体高加速压力测试系统
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详细信息
高加速应力测试（HAST）
1 产品介绍
高加速应力测试（HAST）结合了高温、高湿度、高压和时间，以测量元件的可靠性，无论是否具有电偏置。HAST测试以受控的方式加速了更传统测试的压力。它本质上是一种腐蚀失效测试。腐蚀型故障加速，在较短的时间内发现包装密封，材料和接头等缺陷。
偏置高加速压力测试（BHAST）利用与HAST测试相同的变量（高压，高温和时间），但增加了电压偏差。BHAST测试的目标是加速设备内的腐蚀，从而加快测试周期。
HAST加速压力测试与THB测试类似，因为故障是由相同的机制引起的。由此产生的故障以成比例的速率发生，并且可以在激活引擎之间找到相关性。电气设备/组件更可靠，因此，数千小时的THB测试无法在短时间内发现HAST腐蚀故障测试的弱点。
型的HAST测试条件包括110或130°C的温度，85%RH的湿度和96小时的测试运行时间。一旦高度加速的压力测试完成，测试的样品将用防潮袋返回给客户，并带有测试时间标签。HAST测试通常遵循JEDEC规范JESD22 A110，“高加速温度和湿度压力测试（HAST）”。
参考标准
JESD22-A118 （无偏）
JESD22-A110 （偏置）
IEC 60068-2-66
3 性能特点
l HAST已被开发用于取代温度 - 湿度偏差（THB）测试
l HAST使用110至130 ⁰C的测试温度，与THB测试相比，将测试时间缩短至96小时
l 干燥）高温 130C， 相对湿度 85%， 压力 33.3 psia
l （湿）高温110C，相对湿度35%，压力17.7标准
4 应用领域
l 电子学
l 半导体
l 太阳能
l 药品
l 空间应用
