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SD- LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析仪
- 型号
- SD-
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北京圣达骏业，专注于工业检测领域，以客户需求为导向，从成立之初的红外测温，工控传感两个产品线，经过十五年的行业积累和沉淀，建立了良好的客户信任和全面的厂家渠道。产品线拓展为现场检测，实验室分析相关十余种。
广泛服务于环保，电力，石油，化工，制药，工矿等企业，及科研院所，高校实验室。
秉承为客户创造价值，互利共赢，薄利多销，共同发展的理念，致力于为客户甄选具有服务质量，口碑好，性价比高的产品，做客户信得过的*仪器仪表集成服务商。
坚持诚信，专业，高效，感恩的态度，为客户提供行业动态，项目设计，方案咨询，产品选型，专业采购和安装培训等全程优质服务。
北京圣达骏业科技有限公司正在不断完善产品线，以便为您提供更好的服务！
详细信息
LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析仪是一款全自动、高准确性、高分辨率、高重现性以及操作非常简单的干湿两用粒度分析仪，采用全程Mie光散射理论并提供Fraunhofer理论模型。LS 13 320 XR配备有多种新型的样品进样模块，“即插即用”，满足不同的分析要求，灵活便利；PIDS技术（4953978，5104221），真正实现10nm粒径二两；直观的软件和触摸屏设计，大大简化了仪器的操作。LS 13 320 XR将为您开启全新的测量体验！
LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析仪
1、宽测量范围：10nm~3,500μm
提供真实（峰值）、高分辨率的测试数据，下限低至10nm，上线高达3,500μm。
2、升级版PIDS技术：偏振光强度差散射
提高原始数据检测精度，提高检测器检测垂直和水平偏振散射光的灵敏度，真正实现亚微米级力度分析 – 以往极难达到的测量能力
3、多峰自动检测
测量前无需估计粒度分布情况（比如多峰、窄分布），便可获得正确的测量结果。
4、简单、直观的操作软件
· 从开始测量到获得结果仅需2次点击
· 包含一个集成的光学常数数据库
· 随时向您通报有用的用户诊断报告
· 精简的工作流不仅易于使用，更节省时间
验证
这是《生产质量管理规范（GMP）》和其它法规要求所必须的。
LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析仪配备符合GMP要求的验证程序，可满足安装验证（IQ）和运行验证（OQ）所需。
简单易用的软件
简化您的日常工作
比以往更高效的粒度分析
LS 13 320 XR软件的功能界面更加直观，非常易于使用，您无需具备大量的操作知识便可轻松获得准确的数据。
开始测量
检测方法一旦在LS 13 320 XR软件中设定，仅需点击2次便可开始测量。选择预先设定的方法，编辑样品信息，然后点击开始测量。
仪器自检结果
仪器配备有自检诊断功能，测试过程中随时显示测量情况。
自动合格/不合格管理、实验直接质控
为检验样品合格/不合格，LS 13 320 XR软件自动对测量结果标注绿色或红色，提示其是否符合所需规格。因此，无论操作人员经验如何，均可通过该功能迅速了解样品质量情况。
导航轮
显示和导出数据仅需点击1次。
重磅创新
帮助您准确测量细微差异
细节尤为重要！样本间极细微的差异，会导致成品间出现巨大差异。
这也是为什么LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析仪采用132枚检测器的原因，其可以提供更高的分辨率，获得更准确的检测结果，同时实现10nm-3,500μm的宽范围测量。
X-D阵列检测器-确保高分辨率的准确测量
· 设计的X型对数排布检测器阵列，可以准确记录散射光强信号，获得真实准确的粒度分布
· 132枚检测器能够清晰区分不同粒度等级间散射光强谱图差异，快速、准确的提供真实粒度分布
· 优化的检测器信噪比，大大提高了检测到散射光强谱图细微变化的能力
· 亚微米检测区域，应用6枚检测器对三种不同波长的光在垂直和水平偏振方向上进行36个单独检测，提供纳米级颗粒优异的准确性和高分辨率
多峰样品自动检测，更放心
· 凭借业界出众的技术，无需预估样品峰型，无需选择分析模型，轻松准确分析多峰样品，让您对测试结果更放心
· 准确性误差优于±0.5%
· 重复性误差优于±0.5%
重磅创新
真正实现纳米级测量
创新不止，重磅升级，基于升级版PIDS技术，LS 13 320 XR真正实现纳米级测量，提供亚微米颗粒更高分辨率的粒度分析，下限可准确检测至10nm！
PIDS技术：偏振光强度差散射
传统方法测量亚微米颗粒的散射光强谱图在形状和强度上都非常相似，区分比较困难，因此当测量亚微米颗粒时，优于分辨率低而造成不准确的粒度测量。
而亚微米颗粒在水平和垂直偏振光下可形成差异的散射谱图，而这些差异便是亚微米颗粒识别的重要信息。PIDS技术采用了3种不同波长的光顺次照射样品，首先为垂直偏振，然后为水平偏振，通过分析每个波长的水平和垂直辐射光之间的差异，便可获得亚微米样品准确的粒度分布信息。升级版PIDS技术从光源到滤波器再到检测器都进行了全面的升级，使得测量亚微米颗粒的动态范围和分辨率都得到了更大程度上的提高。
LS 13 320 XR光学平台进样模块及配件
货号 | 描述 |
B98100 | LS 13 320 XR多波长光学平台 |
C27180 | LS 13 320 XR多波长光学平台，待工作站 |
C20930 | 工作站 |
B98103 | 干粉系统模块（DPS） |
粒度测量范围：400nm-3,500μm | |
根据ISO 13 320技术标准要求，测量全部取样样品 | |
设定折光度参数以优化最佳进样率 | |
用户可选真空压力实现大化分散控制 | |
“龙卷风”干粉分散技术 |
B98105 | 通用液体模块（ULM） |
粒度测量范围：10nm-2,000μm | |
全自动稀释、排/进液及自动清洗 | |
分析悬浮于水相或有机相中的样品，灵活易用 | |
与液体接触材质：Teflon®、316不锈钢、玻璃、Kal-rez®、PEEK | |
化学相容性：丁醇、丁酮、碳、四氯化物、氯仿、乙醇、庚烷、乙烷、喷气燃料、煤油、酮、甲醇、二氯甲烷、戊烷、石油醚、丙醇、甲苯、三氯乙烯、水、弱酸弱碱溶液（pH4-10）、乙二醇、聚乙二醇、甘油、矿物油和硅油 |
B95435 | 超声波控制单元 |
探针式超声波可控制湿样均匀分散 | |
功率全程可调 | |
测样之前、过程中均可在ULM进行超声处理 |
C06826 | 真空吸尘器 |
真空压力范围全程可调 | |
集成真空控制装置，用于优化真空/遮光率设置 |
LS 13 320 XR技术参数
技术 | 前向小角度散射光技术结合PIDS（偏振光强度差散射）技术，应用三种不同波长的光在垂直和水平偏振方向上，分析六个不同角度的散射光。同时符合夫琅和费（Fraun-hofer）理论和米氏（Mie）理论。 |
光源 | 主光源：785nm 其它光源（PIDS）：475、613、900nm |
粒度测量范围 | 全量程范围：10nm – 3,500μm（峰值） |
检测器数目 | 132枚硅光电检测器 |
分析通道 | 136个 |
准确性误差 | ＜±0.5% |
重复性误差 | ＜±0.5% |
接口 | USB |
功耗 | 90 – 125 VAC（≤6 amp） 220 – 240 VAC（≤3 amp） |
温度范围 | 10 – 40℃（50 – 104℉） |
相对湿度 | 0 – 90%（无凝结） |
合规性 | 符合21 CFR第11部分标准要求 RoHS 认证： -EU EMC指令2014/30/EU -CISPR 11:2009/A1:2010 -澳大利亚和新西兰法规符合性标志 |
数据导出文件格式 | XLSX、TSV、PDF |
文件导入功能 | LS 13 320和 LS 13 320 XR的测量文件均可导入 |
软件操作系统 | Windows 10,64位 |
主机体积 | 高：49.53cm 长：93.98cm 深：25.4cm |
主机重量 | 23.5公斤 |
美国贝克曼库尔特公司于1997年由贝克曼公司和库尔特公司合并成立，贝克曼库尔特研发专家以其严谨、专业的态度，陆续不断地开发出一系列优异的*的技术，为全球的用户奉献出一款款令人瞩目的产品：新一代高分辨率的库尔特颗粒计数及粒度分析仪Multisizer 4e、PIDS的多波长激光衍射粒度分析仪LS系列、快速Zeta电位及纳米粒度分析仪DelsaMax系列等。
拥有数十年颗粒表征分析历史的贝克曼库尔特公司始终专注于为全球用户创造更多的价值。众多应用领域如食品、制药、化工等和国际组织如美国ASTM，国家航空航天局（NASA）等均将贝克曼库尔特的技术和产品定为标准方法或质量控制的专用仪器。秉承“为全球客户提供富于创新和值得信赖的科学解决方案”的使命，贝克曼库尔特不忘初心，不断创新，致力于为客户提供完整高效的颗粒表征及粒度分析解决方案。
