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customized 超景深显微镜

型号
customized
参数
产地类别:进口 应用领域:综合
深圳市矢量科学仪器有限公司

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深圳市矢量科学仪器有限公司是集半导体仪器装备代理及技术服务的高新技术企业。

致力于提供半导体前道制程工艺装备、后道封装装备、半导体分析测试设备、半导体光电测试仪表及相关仪器装备维护、保养、售后技术支持及实验室整体服务。

公司目前已授实用新型权利 29 项,软件著作权 14 项,是创新型中小企业、科技型中小企业、规模以上工业企业。








详细信息

一、产品概述:

超景深显微镜是一种先进的光学显微镜,能够在较大深度范围内获得清晰的图像,适用于观察复杂样品的三维结构。它通过特殊的成像技术,提供比传统显微镜更深的景深,广泛应用于生命科学、材料科学和工业检测等领域。

本套系统主要用于材料表面形貌的观察;平面或三维测量。可采用3D观测模式,对被测物形状,粗糙度,表面积等进行测量,可以做高度,宽度,横截面,角度,R值,表面积,体积,线粗糙度,面粗糙度等的测量分析。同时可以做材料断口、金相的观测,陶瓷,微流道,微加工,现代加工制造,MEMS研究,微纳制造等。

二、设备用途/原理

·设备用途

超景深显微镜主要用于生物样品、材料表面及微结构的观察和分析。常见应用包括细胞形态学研究、材料缺陷检测、电子元件的分析等。它能够帮助研究人员更好地理解样品的三维特性,提高分析的准确性和效率。

·工作原理

超景深显微镜采用多焦点成像技术,通过获取多个焦平面上的图像,并利用图像处理算法合成出一个具有更大景深的清晰图像。这种方法允许用户在一个图像中同时观察到样品的多个层次,消除了因焦平面限制而导致的细节丢失。通过这种技术,用户可以更全面地分析样品的微观特征,提升观察效果。

三、主要技术指标:

1. 光源类型:≤404nm半导体激光

2. X/Y方向测量显示分辨率:1nm

3. Z向测量显示分辨率:0.5 nm                  

4. 面扫描速度:≥125Hz、线扫描速度:≥7900Hz          

5. 角度特性:稳定测量倾角≥87.1度的斜面

6.XY载物台电动运行范围:≥100mm*100mm


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