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AF-T010 优可测膜厚仪
- 型号
- AF-T010
详细信息
ATOMETRICS优可测是板石智能旗下专注于高精测量领域的国产自主品牌，致力为半导体、精密光学、新能源、3C消费类电子、医疗、刀具、航空航天等行业和高校提供三维测量产品、解决方案及相关服务，产品精度覆盖到微米、纳米甚至亚纳米级，满足生产、研发和品控过程中表面粗糙度、台阶、3D形貌、三维形貌比对、高度、平面度、几何图形、平面尺寸、3D轮廓等各种测量需求。优可测膜厚仪，精度达0.1nm，多层膜测量---可测10层膜，毫秒级别的采样频率，比传统膜厚仪提升2~3倍，更适合在线使用，优可测支持客制化，根据客户需求定制。
