AF-X010 优可测半透明膜厚度测量仪-化工仪器网-手机站

首页>光学仪器及设备>光学测量仪>其它光学测量仪

参考价：

起订量：

面议

AF-X010 优可测半透明膜厚度测量仪

具体成交价以合同协议为准 2023-11-16 深圳市

型号: AF-X010

参数: 产地类别:国产价格区间:面议应用领域:能源,电子,航天,汽车,综合

板石智能科技（深圳）有限公司

免费会员

生产厂家

进入商铺全部产品

该企业相似产品

在线询价

在线询价

在线询价

在线询价

白光干涉仪，三维形貌测量仪，表面轮廓仪，台阶仪，粗糙度仪

公司介绍0915-C01_00.png

详细信息

ATOMETRICS优可测是板石智能旗下专注于高精测量领域的国产自主品牌，致力为半导体、精密光学、新能源、3C消费类电子、医疗、刀具、航空航天等行业和高校提供三维测量产品、解决方案及相关服务，产品精度覆盖到微米、纳米甚至亚纳米级，满足生产、研发和品控过程中表面粗糙度、台阶、3D形貌、三维形貌比对、高度、平面度、几何图形、平面尺寸、3D轮廓等各种测量需求。优可测半透明膜厚度测量仪，精度达0.1nm，多层膜测量---可测10层膜，毫秒级别的采样频率，比传统膜厚仪提升2~3倍，更适合在线使用，优可测支持客制化，根据客户需求定制。