XRF膜厚仪XU-100 五金螺丝电镀镀层测厚仪
中级会员第4年
生产厂家公司是一家从事精密检测仪器设备的生产销售,售后培训,维修维护,并提供配套应用分析及实验室构建方案的一家公司。公司主营产品有:RoHS分析仪、X-RAY检测设备,X射线数字成像系统,锂电池检测设备,镀层测厚仪、合金分析仪、RoHS2.0检测仪、RoHS2.0测试仪、膜厚仪、手持式合金分析仪、直读光谱仪、高效液相色谱仪、GC-MS气相色谱质谱联用仪、ICP电感耦合光谱仪、AAS原子吸收分光光度计等,并针对重金属环保检测、有害物质分析、材料成分析提供整套实验室构建、耗材、培训等一站式解决方案。为客户提供更加*产品和更加满意的服务,同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供更为完善的行业整体解决方案,从而推动中国经济快速全球化。
公司拥有完善的销售务网络,在全国设立多个服务网点和营销代理,拥有强大的服务支撑体系。公司成立客户服务中心,提供24小时免费服务热线。公司与国外多家品牌建立合作关系,产品品种齐全,为各行业提供的分析解决方案和仪器设备。作为一家科技创新型企业,拥有XRF行业的软件研发工程师和硬件研发工程师,平均从业经验十年以上。
五金螺丝电镀镀层测厚仪分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
五金螺丝电镀镀层测厚仪XU-100基本参数:
x射线层测厚仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;
软件可分析5层25种元素镀层;
通过软件操作样品移动平台,实现不同测试点的测试需求;
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器,实现对多镀层样品的精准分析;
内置高清晰摄像头,方便用户观测样品状态;
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
样品台尺寸:230(W)×210(D)mm
移动范围:50(X)mm, 50(Y)mm
Z轴升降平台升降范围:0-140mm
国产X射线测厚仪XU-100产品优势
x射线测厚仪样品处理方法简单或无前处理
可快速对样品做定性分析
对样品可做半定量或准定量分析
谱线峰背比高,分析灵敏度高
不破坏试样,无损分析
试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
设备可靠、维修、维护简单
便捷、低廉的售后服务保证
快速:一般测量一个样品只需要1~3分钟,样品可不处理或进行简单处理。
无损:物理测量,不改变样品性质
准确:对样品可以精确分析
直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然,定性分析速度快
环保:检测过程中不产生任何废气、废水
技术指标
分析元素范围:硫(S)~铀(U)
同时检测元素:*多24个元素,多达5层镀层
分析含量:一般为2ppm到99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)
SDD探测器:分辨率低至135eV
*微孔准直技术:*小孔径达0.1mm,*小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃
性能优势
1.精密的三维移动平台
2.的样品观测系统
3.*图像识别
4.轻松实现深槽样品的检测
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换
6.双重保护措施,实现无缝防撞
7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度
全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动自检、复位;
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样;
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦;
直接点击全景或局部景图像选取测试点;
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。
产地类别 | 国产 |
价格区间 | 10万-20万 |
应用领域 | 医疗卫生,电子,航天,汽车,综合 |
分辨率 | 140EV |
元素分析 | 硫(S)到铀(U) |
外观尺寸 | 576(W)×495(D)×545(H)?mm |
样品室尺寸 | 500(W)×350(D)×140(H)?mm |