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XAD-μ 晶圆微区镀层厚度分析仪 XRF膜厚仪

型号
XAD-μ
参数
产地类别:国产 价格区间:10万-20万 应用领域:医疗卫生,电子,航天,汽车,综合 分辨率:140EV 元素分析:硫(S)到铀(U) 外观尺寸:576(W)×495(D)×545(H)?mm 样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H)?mm
苏州福佰特仪器科技有限公司

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光谱,色谱,质谱,ROHS检测仪,X-ray无损分析设备,电镀层厚度测试仪,材料成分分析仪,手持式光谱仪等。

      公司是一家从事精密检测仪器设备的生产销售,售后培训,维修维护,并提供配套应用分析及实验室构建方案的一家公司。公司主营产品有:RoHS分析仪、X-RAY检测设备,X射线数字成像系统,锂电池检测设备,镀层测厚仪、合金分析仪、RoHS2.0检测仪、RoHS2.0测试仪、膜厚仪、手持式合金分析仪、直读光谱仪、高效液相色谱仪、GC-MS气相色谱质谱联用仪、ICP电感耦合光谱仪、AAS原子吸收分光光度计等,并针对重金属环保检测、有害物质分析、材料成分析提供整套实验室构建、耗材、培训等一站式解决方案。为客户提供更加*产品和更加满意的服务,同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供更为完善的行业整体解决方案,从而推动中国经济快速全球化。

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详细信息

晶圆微区镀层厚度分析仪 XRF膜厚仪:

晶圆微区镀层厚度分析仪 XRF膜厚仪应用多导毛细管技术,轻松应对超小测量点薄涂层和极薄涂层的测量分析,在柔性电路板、芯片封装环节、晶圆微区的镀层厚度和成分自动测试分析中尽显优势。XAD-μ多导毛细聚焦XRF应用多导毛细管技术,轻松应对超小测量点薄涂层和极薄涂层的测量分析,在柔性电路板、芯片封装环节、晶圆微区的镀层厚度和成分自动测试分析中尽显优势主要利用X射线全反射原理,从X射线管激发出来的X射线束在毛细玻璃管的内壁以全反射的方式进行传输,利用毛细玻璃管的弯曲来改变X射线的传输方向,从而实现X射线汇聚,同时将X射线的强度增加2~3个数量级

晶圆微区镀层厚度分析仪 XRF膜厚仪

晶圆微区镀层厚度分析仪 XRF膜厚仪

主要利用X射线全反射原理,从X射线管激发出来的X射线束在毛细玻璃管的内壁以全反射的方式进行传输,利用毛细玻璃管的弯曲来改变X射线的传输方向,从而实现X射线汇聚,同时将X射线的强度增加2~3个数量级。

晶圆微区镀层厚度分析仪 XRF膜厚仪

晶圆微区镀层厚度分析仪 XRF膜厚仪


仪器的高集成光路系统的基础上,搭配多导毛细管 实现极小面积或极薄镀层的高速、精确、稳定的测量,聚焦直径可小至10μm

▪ 多导毛细聚焦技术,可产生比准直器机构强千倍的信号强度

▪ 多导毛细管将激发光束非常高强度的集中在一个的小光斑上,从而显著缩短测量时间

▪ 在测量纳米级Au厚度或薄膜层厚度及成分时,满足微小光斑、短测量时间的同时,测量效果

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测量精度更高:新开发的光学器件的多导毛细管技术可对超微小区域及纳米级薄层高精度测量

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产品参数

产地类别 国产
价格区间 10万-20万
应用领域 医疗卫生,电子,航天,汽车,综合
分辨率 140EV
元素分析 硫(S)到铀(U)
外观尺寸 576(W)×495(D)×545(H)?mm
样品室尺寸 500(W)×350(D)×140(H)?mm
企业未开通此功能
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