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粒子黑点杂质检测仪 (PS25C)
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详细信息
OCS粒子黑点杂质检测仪(PS25C)，用于对透明和不透明树脂粒子进行检测，这些粒子通过一个料斗引入振动平台，使用高分辨率彩色摄像机进行分析，检测其中的缺陷、杂质或色差。PS25C可选多弹片分拣系统，对缺陷颗粒进行分拣。测量结果可实时传输到控制室DCS进行生产和工艺控制，以及对分拣出来的缺陷颗粒通过分析系统进行进一步评估，提升产品质量。
粒子黑点杂质检测仪(PS25C)特点：
■可测试的原材料
■高透明粒子
■不透明粒子
■高性能3CMOS彩色矩阵相机
■可检测到的zui小杂质尺寸：10μm
■处理量可达25公斤/小时，根据具体材料性能差异而不同
■结果实时可视化
■用于分拣杂质颗粒的多弹片分拣系统
兼容于以下设备：
■OCS色度测量仪(CM3)
■OCS粒子尺寸和形状分布测试仪(PSSD）
■OCS粒子输送系统(PTS)
粒子黑点杂质检测仪(PS25C)特点：
■可测试的原材料
■高透明粒子
■不透明粒子
■高性能3CMOS彩色矩阵相机
■可检测到的zui小杂质尺寸：10μm
■处理量可达25公斤/小时，根据具体材料性能差异而不同
■结果实时可视化
■用于分拣杂质颗粒的多弹片分拣系统
兼容于以下设备：
■OCS色度测量仪(CM3)
■OCS粒子尺寸和形状分布测试仪(PSSD）
■OCS粒子输送系统(PTS)
