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Data-Pixel-干涉仪-DAISI-V3
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Data-Pixel-干涉仪-DAISI-V3
产品型号:DAISI-V3
产品介绍:用于测量单光纤连接器端面几何形状的干涉仪,配备革命性的“无外部移动部件”机械设计。该装置结合了 x400 显微镜和干涉仪,以便在很短的时间内控制抛光后的连接器。借助 Blink 软件,操作员可以以简单的方式生成定制控制报告。DAISI-V3 兼容行业测量标准。
性能特点:
PC和APC连接器、套圈和裸光纤的测量
真相移干涉仪
非接触测量
智能自动对焦,仅在需要时对焦
用于自动Apex校准的受控参考镜
坚固的电机驱动自动法兰锁定机构
轻松快速地从PC切换到APC,无需更换光纤支架
符合干涉仪测量的行业标准
直观的BLINK软件,具有数据库连接
兼容台式电脑、笔记本电脑、平板电脑
参数:
产地:法国
视野(mm):0.7 x 0.5
扫描模式:红光和蓝光
半径(mm):3至平面
顶点偏移(µm):0至500
光纤高度(nm):±160
光纤切割角度(度):0到12
测量速度(秒):1
放大倍数:X 400
输出:USB 3.0和USB 2.0
电源:外部12V
尺寸高x宽x长(mm):133 x 171 x 244
重量(kg):8.6